| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-8页 |
| 1 引言 | 第8-9页 |
| 2 历史资料 | 第9-13页 |
| ·Gd-Mn二元系 | 第9-10页 |
| ·Mn-Ti二元系 | 第10-12页 |
| ·Gd-Ti-元系 | 第12-13页 |
| 3 实验原理和方法 | 第13-31页 |
| ·试样的制备 | 第13-15页 |
| ·配料和熔炼 | 第13-14页 |
| ·合金试样的均匀化热处理 | 第14-15页 |
| ·粉末试样的制备 | 第15页 |
| ·金相试样的制备 | 第15页 |
| ·X射线衍射法 | 第15-17页 |
| ·X射线衍射仪的基本原理与构造 | 第16页 |
| ·实验条件的选择 | 第16-17页 |
| ·差热分析法(DTA) | 第17-19页 |
| ·金相分析法 | 第19页 |
| ·电镜分析法 | 第19-21页 |
| ·扫描电子显微镜(SEM) | 第19-20页 |
| ·能谱分析(EDAX) | 第20-21页 |
| ·相界的测定 | 第21-22页 |
| ·相消失法 | 第21页 |
| ·点阵常数法 | 第21-22页 |
| ·X射线粉末衍射谱的指标化 | 第22-27页 |
| ·比值法 | 第23-24页 |
| ·分析法 | 第24页 |
| ·图解法 | 第24-26页 |
| ·计算机尝试法 | 第26页 |
| ·指标化结果正确性判据 | 第26-27页 |
| ·晶体点阵常数的精确测定 | 第27-31页 |
| ·内标法 | 第27-28页 |
| ·图形外推法 | 第28-29页 |
| ·最小二乘法 | 第29-31页 |
| 4.实验结果和分析 | 第31-36页 |
| ·实验过程的分析 | 第31-32页 |
| ·关于样品熔炼 | 第31页 |
| ·关于高频炉的使用 | 第31页 |
| ·熔炼炉中的充氩 | 第31-32页 |
| ·相图边界二元系的分析 | 第32页 |
| ·关于Gd-Mn二元系 | 第32页 |
| ·关于Gd-Ti二元系 | 第32页 |
| ·关于Mn-Ti二元系 | 第32页 |
| ·单相区固溶度的分析 | 第32-33页 |
| ·Gd-Mn-Ti三元系合金相图773K等温截面 | 第33-35页 |
| 表4-3 Gd-Mn-Ti三元合金体系三相区的相组成 | 第35-36页 |
| 参考文献 | 第36-38页 |
| 攻读硕士期间已发表和待发表的论文 | 第38-39页 |
| 致谢 | 第39-40页 |
| 附表1 实验合金的成分配比及相组成 | 第40-44页 |
| 附图1-18 X射线衍射谱线 | 第44-62页 |
| 附图19-20 部分样品DTA曲线 | 第62-63页 |