电气石粉体表面有机化改性探讨
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-24页 |
| ·粉体表面改性简介 | 第10-15页 |
| ·粉体表面改性的概念 | 第10页 |
| ·粉体表面改性方法 | 第10-14页 |
| ·粉体表面改性工艺 | 第14-15页 |
| ·电气石简介 | 第15-21页 |
| ·电气石的结构特点 | 第15-16页 |
| ·电气石的性质 | 第16-19页 |
| ·电气石应用现状 | 第19-21页 |
| ·国内外电气石改性的研究现状 | 第21-22页 |
| ·本课题的提出及研究意义 | 第22-23页 |
| ·本文主要研究内容 | 第23-24页 |
| 第2章 月桂酰氯对电气石的表面改性 | 第24-37页 |
| ·引言 | 第24页 |
| ·实验部分 | 第24-25页 |
| ·实验原料、试剂及实验仪器 | 第24-25页 |
| ·月桂酰氯的干燥与保存 | 第25页 |
| ·月桂酰氯对电气石表面改性的方法 | 第25页 |
| ·表征和测试 | 第25-27页 |
| ·活化指数的测定 | 第25页 |
| ·接触角的测定 | 第25-26页 |
| ·傅立叶红外光谱（FTIR）分析 | 第26页 |
| ·X 射线衍射（XRD）分析 | 第26页 |
| ·扫面电镜(SEM)分析 | 第26页 |
| ·负离子释放量测试 | 第26页 |
| ·差热（DTA）分析 | 第26-27页 |
| ·实验结果与讨论 | 第27-33页 |
| ·反应条件对电气石改性效果的影响 | 第27-30页 |
| ·傅立叶红外光谱（FTIR）分析 | 第30-31页 |
| ·X 射线衍射（XRD）分析 | 第31-32页 |
| ·扫描电镜（SEM）分析 | 第32页 |
| ·负离子释放量测试分析 | 第32-33页 |
| ·差热（DTA）分析 | 第33页 |
| ·电气石及改性电气石/聚乙烯复合材料的制备 | 第33-35页 |
| ·本章小结 | 第35-37页 |
| 第3章 斯潘 80 对电气石的改性 | 第37-48页 |
| ·引言 | 第37页 |
| ·实验部分 | 第37-38页 |
| ·实验原料、试剂及实验仪器 | 第37页 |
| ·司盘 80 对电气石表面改性的方法 | 第37-38页 |
| ·表征和测试 | 第38-39页 |
| ·活化指数的测定 | 第38页 |
| ·接触角测定 | 第38页 |
| ·浊度的测定 | 第38-39页 |
| ·傅立叶红外光谱（FTIR）分析 | 第39页 |
| ·X 射线衍射（XRD）分析 | 第39页 |
| ·扫面电镜(SEM)分析 | 第39页 |
| ·负离子释放量测试 | 第39页 |
| ·差热（DTA）分析 | 第39页 |
| ·实验结果与讨论 | 第39-47页 |
| ·反应条件对电气石改性效果的影响 | 第39-44页 |
| ·傅立叶红外光谱（FTIR）分析 | 第44页 |
| ·X 射线衍射（XRD）分析 | 第44-45页 |
| ·扫面电镜(SEM)分析 | 第45-46页 |
| ·负离子释放量测试分析 | 第46页 |
| ·差热（DTA）分析 | 第46-47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 第4章 硬脂酸钠对电气石的改性 | 第48-57页 |
| ·引言 | 第48页 |
| ·实验部分 | 第48-49页 |
| ·实验原料、试剂及实验仪器 | 第48页 |
| ·硬脂酸钠对电气石表面改性的方法 | 第48-49页 |
| ·表征和测试 | 第49-50页 |
| ·接触角的测定 | 第49页 |
| ·浊度的测定 | 第49页 |
| ·傅立叶红外光谱（FTIR）分析 | 第49页 |
| ·X 射线衍射（XRD）分析 | 第49页 |
| ·扫面电镜(SEM)分析 | 第49-50页 |
| ·负离子释放量测试 | 第50页 |
| ·差热（DTA）分析 | 第50页 |
| ·实验结果与讨论 | 第50-56页 |
| ·反应条件对电气石改性效果的影响 | 第50-53页 |
| ·傅立叶红外光谱（FTIR）分析 | 第53-54页 |
| ·X 射线衍射（XRD）分析 | 第54页 |
| ·扫描电镜（SEM）分析 | 第54-55页 |
| ·负离子释放量测试分析 | 第55页 |
| ·差热（DTA）分析 | 第55-56页 |
| ·本章小结 | 第56-57页 |
| 结论 | 第57-59页 |
| 参考文献 | 第59-65页 |
| 致谢 | 第65-66页 |
| 硕士期间发表的论文 | 第66页 |
