嵌入式JTAG仿真调试器的研究与实现
| 第一章 引言 | 第1-10页 |
| ·课题背景 | 第8页 |
| ·课题综述 | 第8-9页 |
| ·章节安排 | 第9-10页 |
| 第二章 国内外现状以及发展趋势 | 第10-18页 |
| ·常用嵌入式调试方式的评估 | 第10-14页 |
| ·软件仿真调试 | 第10-11页 |
| ·存储器监控调试 | 第11-13页 |
| ·硬件仿真调试 | 第13-14页 |
| ·主流调试环境应用比较 | 第14-16页 |
| ·LAMDA ODA 需求 | 第16-17页 |
| ·小结 | 第17-18页 |
| 第三章 ARM JTAG 原理分析 | 第18-48页 |
| ·背景 | 第18页 |
| ·JTAG 基本原理 | 第18-26页 |
| ·边界扫描原理 | 第18-20页 |
| ·JTAG 结构 | 第20-22页 |
| ·TAP 控制器的状态机 | 第22-26页 |
| ·ARM7TDMI 上的JTAG | 第26-35页 |
| ·TAP 控制器、指令寄存器、数据寄存器 | 第26-28页 |
| ·ARM7TDMI 的扫描链 | 第28-31页 |
| ·TAP 指令 | 第31-35页 |
| ·ARM7TDMI 的EMBEDDEDICE | 第35-42页 |
| ·EmbeddedICE 结构 | 第35-36页 |
| ·实时监控单元 | 第36-38页 |
| ·外围控制单元 | 第38-40页 |
| ·调试通信通道 | 第40-42页 |
| ·ARM7TDMI 片上调试的实现 | 第42-47页 |
| ·调试系统 | 第42-43页 |
| ·ARM7TDMI 的调试模式 | 第43-45页 |
| ·断点和观察点 | 第45-47页 |
| ·小结 | 第47-48页 |
| 第四章 GDB RSP 调试协议分析 | 第48-56页 |
| ·背景 | 第48页 |
| ·通讯协议 | 第48-49页 |
| ·数据读写 | 第49-51页 |
| ·运行控制 | 第51-54页 |
| ·状态查询 | 第51-52页 |
| ·控制功能 | 第52-54页 |
| ·其他辅助命令 | 第54-55页 |
| ·小结 | 第55-56页 |
| 第五章 LAMBDA ODA 的设计与实现 | 第56-74页 |
| ·总体设计 | 第56-61页 |
| ·交叉调试系统组成 | 第56-57页 |
| ·Lambda ODA 运行环境 | 第57-58页 |
| ·Lambda ODA 系统结构 | 第58-61页 |
| ·运行设计 | 第61-66页 |
| ·Lambda ODA 总体运行流程 | 第61-62页 |
| ·Lambda ODA 读处理器寄存器流程 | 第62-64页 |
| ·Lambda ODA 设置硬件断点流程 | 第64-66页 |
| ·接口设计 | 第66-73页 |
| ·JTAG 层接口设计 | 第66-67页 |
| ·JTAG 调试命令抽象层接口设计 | 第67-71页 |
| ·JTAG 协议转换层接口设计 | 第71-73页 |
| ·小结 | 第73-74页 |
| 第六章 LAMBDA ODA 的测试 | 第74-76页 |
| ·LAMBDA ODA 的单元测试 | 第74页 |
| ·LAMBDA ODA 系统测试 | 第74-75页 |
| ·小结 | 第75-76页 |
| 第七章 结论 | 第76-78页 |
| ·课题总结 | 第76页 |
| ·LAMBDA ODA 特点 | 第76-77页 |
| ·展望 | 第77-78页 |
| 参考文献 | 第78-79页 |
| 致谢 | 第79-80页 |
| 个人简历、在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第80页 |
| 一、个人简历 | 第80页 |
| 二、在学期间的研究成果 | 第80页 |
| 三、发表的学术论文 | 第80页 |
