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高速波形分析仪硬件系统设计

第一章 引言第1-12页
   ·波形分析仪的特点及研制价值第9-10页
   ·波形分析仪国内外发展状况第10页
   ·设计目标及课题任务第10-12页
第二章 波形分析仪硬件系统总体设计第12-17页
   ·波形分析仪硬件系统总体设计方案第12-16页
   ·波形分析仪硬件系统总体工作流程第16-17页
第三章 信号调理及数据采集模块电路的设计第17-44页
   ·信号调理电路第17-21页
     ·衰减网络第18-19页
     ·阻抗变换和放大电路第19页
     ·细衰减电路第19-20页
     ·驱动级电路第20-21页
   ·触发通道第21-23页
   ·通道控制电路第23-25页
     ·通道状态控制电路第23-24页
     ·触发电平和垂直位移调整电路第24-25页
   ·A/D 转换电路第25-29页
     ·多A/D 并行交替采样电路原理第25-26页
     ·双A/D 并行交替采样电路的实现第26-27页
     ·采样时钟电路设计第27-29页
   ·高速大容量数据分相存储技术第29-33页
     ·数据分相存储的原理及样值存储器的选择第29-30页
     ·高速数据分相存储电路的设计及仿真第30-33页
   ·系统控制逻辑设计第33-44页
     ·读写地址产生逻辑第33-37页
     ·采样及样值存储控制逻辑第37-44页
第四章 DSP 控制及数据流切换模块的设计第44-50页
   ·TMS320VC5409 介绍第44页
   ·DSP 电源、复位和时钟电路设计第44-45页
   ·DSP 程序、数据空间配置和程序存储电路设计第45-47页
   ·系统存储空间的分配第47-49页
   ·数据流切换电路的设计第49-50页
第五章 VXI 总线接口模块的设计第50-52页
   ·VXI 总线测试系统概述第50页
   ·VXI 总线接口控制器设计第50-51页
   ·大容量采样数据的上传第51-52页
第六章 系统调试与整机测试第52-58页
   ·系统调试第52-54页
     ·单向串口通信的动态调试第52页
     ·SRAM 高速写入数据的动态调试第52页
     ·四相数据合成相序的动态调试第52页
     ·四相数据拼合测试第52-53页
     ·预触发深度的偏差问题第53页
     ·通道单次带宽调试第53页
     ·A/D 低采样率时的问题第53页
     ·FIFO 电路的调试第53-54页
   ·整机测试第54-58页
     ·最高采样率(双通道同时)的测试第54页
     ·单次带宽(-3dB)的测试第54-55页
     ·单次采集波形记录长度的测试第55页
     ·输入电压范围的测试第55-56页
     ·触发特性的测试第56-58页
第七章 结束语第58-60页
参考文献第60-61页
致谢第61-62页
个人简历及研究成果第62页

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