高速波形分析仪硬件系统设计
第一章 引言 | 第1-12页 |
·波形分析仪的特点及研制价值 | 第9-10页 |
·波形分析仪国内外发展状况 | 第10页 |
·设计目标及课题任务 | 第10-12页 |
第二章 波形分析仪硬件系统总体设计 | 第12-17页 |
·波形分析仪硬件系统总体设计方案 | 第12-16页 |
·波形分析仪硬件系统总体工作流程 | 第16-17页 |
第三章 信号调理及数据采集模块电路的设计 | 第17-44页 |
·信号调理电路 | 第17-21页 |
·衰减网络 | 第18-19页 |
·阻抗变换和放大电路 | 第19页 |
·细衰减电路 | 第19-20页 |
·驱动级电路 | 第20-21页 |
·触发通道 | 第21-23页 |
·通道控制电路 | 第23-25页 |
·通道状态控制电路 | 第23-24页 |
·触发电平和垂直位移调整电路 | 第24-25页 |
·A/D 转换电路 | 第25-29页 |
·多A/D 并行交替采样电路原理 | 第25-26页 |
·双A/D 并行交替采样电路的实现 | 第26-27页 |
·采样时钟电路设计 | 第27-29页 |
·高速大容量数据分相存储技术 | 第29-33页 |
·数据分相存储的原理及样值存储器的选择 | 第29-30页 |
·高速数据分相存储电路的设计及仿真 | 第30-33页 |
·系统控制逻辑设计 | 第33-44页 |
·读写地址产生逻辑 | 第33-37页 |
·采样及样值存储控制逻辑 | 第37-44页 |
第四章 DSP 控制及数据流切换模块的设计 | 第44-50页 |
·TMS320VC5409 介绍 | 第44页 |
·DSP 电源、复位和时钟电路设计 | 第44-45页 |
·DSP 程序、数据空间配置和程序存储电路设计 | 第45-47页 |
·系统存储空间的分配 | 第47-49页 |
·数据流切换电路的设计 | 第49-50页 |
第五章 VXI 总线接口模块的设计 | 第50-52页 |
·VXI 总线测试系统概述 | 第50页 |
·VXI 总线接口控制器设计 | 第50-51页 |
·大容量采样数据的上传 | 第51-52页 |
第六章 系统调试与整机测试 | 第52-58页 |
·系统调试 | 第52-54页 |
·单向串口通信的动态调试 | 第52页 |
·SRAM 高速写入数据的动态调试 | 第52页 |
·四相数据合成相序的动态调试 | 第52页 |
·四相数据拼合测试 | 第52-53页 |
·预触发深度的偏差问题 | 第53页 |
·通道单次带宽调试 | 第53页 |
·A/D 低采样率时的问题 | 第53页 |
·FIFO 电路的调试 | 第53-54页 |
·整机测试 | 第54-58页 |
·最高采样率(双通道同时)的测试 | 第54页 |
·单次带宽(-3dB)的测试 | 第54-55页 |
·单次采集波形记录长度的测试 | 第55页 |
·输入电压范围的测试 | 第55-56页 |
·触发特性的测试 | 第56-58页 |
第七章 结束语 | 第58-60页 |
参考文献 | 第60-61页 |
致谢 | 第61-62页 |
个人简历及研究成果 | 第62页 |