第一章 绪论 | 第1-15页 |
1.1 引言 | 第7页 |
1.2 薄带测厚系统的现状 | 第7-14页 |
1.2.1 超声波测厚 | 第7-8页 |
1.2.2 射线测厚 | 第8-9页 |
1.2.3 激光测厚 | 第9-11页 |
1.2.4 运算型电容传感器测厚 | 第11页 |
1.2.5 涡流测厚 | 第11-13页 |
1.2.6 干涉测厚 | 第13-14页 |
1.3 本论文研究的内容 | 第14-15页 |
第二章 光的干涉理论 | 第15-26页 |
2.1 光的干涉发展简史 | 第15页 |
2.2 光的电磁理论基础 | 第15-16页 |
2.3 波的叠加原理 | 第16-20页 |
2.3.1 两个频率相同、振动方向相同的单色光波的叠加 | 第17-19页 |
2.3.2 两个不同频率的单色光波的叠加 | 第19-20页 |
2.4 光波的干涉条件 | 第20-22页 |
2.5 干涉条纹的可见度 | 第22页 |
2.6 光源非单色性的影响和时间相干性 | 第22-24页 |
2.6.1 光源非单色性的影响 | 第22-23页 |
2.6.2 时间相干性 | 第23页 |
2.6.3 迈克耳逊干涉仪 | 第23-24页 |
2.7 处理白光干涉谱数据的极值法 | 第24-26页 |
第三章 小波分析理论 | 第26-38页 |
3.1 小波理论的产生和发展 | 第26-27页 |
3.2 小波的概念 | 第27页 |
3.3 小波变换 | 第27-29页 |
3.3.1 连续小波变换 | 第27-28页 |
3.3.2 连续小波变换的逆变换(ICWT) | 第28页 |
3.3.3 离散小波变换 | 第28-29页 |
3.3.4 二进小波变换及其逆变换 | 第29页 |
3.4 多分辨率分析与正交小波变换 | 第29-33页 |
3.4.1 尺度函数与尺度空间 | 第29-30页 |
3.4.2 多分辨率分析概念的引入 | 第30-31页 |
3.4.3 小波函数与小波空间 | 第31-32页 |
3.4.4 正交小波变换与多分辨率分析 | 第32-33页 |
3.5 二尺度方程 | 第33-34页 |
3.6 正交小波变换的快速算法 | 第34-38页 |
3.6.1 系数分解的快速算法 | 第34-36页 |
3.6.2 系数重建的快速算法 | 第36页 |
3.6.3 初始输入序列 | 第36-38页 |
第四章 超薄金属薄带厚度测量系统的设计 | 第38-45页 |
4.1 超薄金属薄带厚度测量系统的原理设计 | 第38-39页 |
4.2 白光差分干涉光强与金属薄带厚度的关系 | 第39-40页 |
4.3 测量装置应满足的条件 | 第40-45页 |
4.3.1 光线平行性条件 | 第40-42页 |
4.3.2 光程差的限制 | 第42-43页 |
4.3.3 反射面与光线垂直条件 | 第43-44页 |
4.3.4 两个反射面的反射率不同的问题 | 第44-45页 |
第五章 基于小波理论的白光差分干涉谱数据处理方法 | 第45-56页 |
5.1 白光差分干涉谱数据的特点 | 第45-46页 |
5.2 小波变换处理干涉谱数据 | 第46-51页 |
5.2.1 小波去噪原理及算法 | 第46-48页 |
5.2.2 小波滤波原理 | 第48-49页 |
5.2.3 小波变换处理白光干涉谱数据 | 第49-51页 |
5.3 极值法的改进 | 第51-52页 |
5.4 软件程序流程简介 | 第52-53页 |
5.5 测量装置参数估算 | 第53-54页 |
5.6 小波滤波层数的确定 | 第54-56页 |
第六章 提高白光干涉谱数据处理精度的方法 | 第56-62页 |
6.1 基于均方差最小意义下的白光干涉谱数据处理方法 | 第57-60页 |
6.2 实验验证 | 第60-62页 |
第七章 总结与展望 | 第62-64页 |
附录一 在VC++中编写MATLAB引擎程序的步骤及方法 | 第64-66页 |
参考文献 | 第66-68页 |
硕士期间发表的论文 | 第68-69页 |
致谢 | 第69页 |