继电保护状态检修及状态评价体系的研究
致谢 | 第1-5页 |
摘要 | 第5-6页 |
ABSTRACT | 第6-8页 |
目录 | 第8-10页 |
第1章 绪论 | 第10-14页 |
·研究背景 | 第10-11页 |
·国内外研究现状 | 第11-12页 |
·我国继电保护检修工作现状 | 第11页 |
·继电保护状态检修的概况 | 第11-12页 |
·本课题研究内容 | 第12-14页 |
第2章 继电保护系统的可靠性数学分析 | 第14-26页 |
·可靠性数学理论的背景和研究方法 | 第14页 |
·继电保护可靠性指标 | 第14-20页 |
·可靠度 | 第15-16页 |
·失效率 | 第16-19页 |
·平均无故障时间 | 第19页 |
·可用度 | 第19-20页 |
·失效率函数与寿命分布 | 第20-23页 |
·早期失效期与威布尔分布 | 第21页 |
·偶然失效期与指数分布 | 第21-22页 |
·耗损失效期与正态分布 | 第22-23页 |
·系统的可靠性数学模型 | 第23-24页 |
·本章小结 | 第24-26页 |
第3章 继电保护系统故障模式及风险分析 | 第26-36页 |
·继电保护系统风险分析 | 第26-29页 |
·继电保护系统的结构 | 第26-27页 |
·继电保护系统的风险因素 | 第27-28页 |
·继电保护系统的故障后果 | 第28页 |
·故障检测方法 | 第28-29页 |
·继电保护系统风险评估 | 第29-32页 |
·风险指标与风险等级 | 第29-30页 |
·风险评估 | 第30-32页 |
·继电保护系统风险控制 | 第32-34页 |
·风险控制的原则 | 第32页 |
·风险控制的方法 | 第32-34页 |
·本章小结 | 第34-36页 |
第4章 继电保护状态检修的特点 | 第36-44页 |
·电子元器件失效分析 | 第36-38页 |
·电子元器件的失效期 | 第36-37页 |
·电子元器件的失效形式 | 第37页 |
·电子元器件的失效原因 | 第37-38页 |
·电子元器件的失效检测方法 | 第38页 |
·继电保护设备的P-F间隔 | 第38-40页 |
·一、二次系统的状态检测 | 第40-42页 |
·一次设备的状态检测与状态信息 | 第40-41页 |
·二次设备的状态监测 | 第41-42页 |
·本章小结 | 第42-44页 |
第5章 继电保护状态检修的可靠性分析 | 第44-52页 |
·单一保护装置状态检修的状态空间模型 | 第44-47页 |
·采用状态空间法的保护可靠性计算 | 第47-48页 |
·算例分析 | 第48-51页 |
·本章小结 | 第51-52页 |
第6章 继电保护状态评价体系 | 第52-64页 |
·继电保护系统的状态评价 | 第52-53页 |
·检测型状态评价 | 第53-55页 |
·系统可靠度评价 | 第55-58页 |
·设备相对品质评价 | 第58-63页 |
·老化失效评价 | 第59-61页 |
·故障率 | 第61页 |
·平均可用度 | 第61-62页 |
·预计可用度 | 第62页 |
·平均无故障时间 | 第62-63页 |
·本章小结 | 第63-64页 |
第7章 结语 | 第64-66页 |
参考文献 | 第66-70页 |
作者在攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第70页 |