非制冷凝视热像仪成像理论以及关键技术研究
| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-12页 |
| 1 绪论 | 第12-23页 |
| ·红外热成像技术发展概况 | 第12-15页 |
| ·红外热成像技术的发展基础与方向 | 第15-19页 |
| ·论文的研究背景和主要工作 | 第19-21页 |
| ·论文的创新点和取得的成果 | 第21-23页 |
| 2 非制冷凝视红外焦平面成像理论 | 第23-57页 |
| ·引言 | 第23页 |
| ·红外辐射特性与辐射定律 | 第23-25页 |
| ·红外辐射在大气中的传输 | 第25-27页 |
| ·红外光学系统模型 | 第27-29页 |
| ·非制冷凝视红外焦平面探测原理 | 第29-44页 |
| ·主要热探测机理 | 第29-34页 |
| ·电阻微测辐射热计的模型 | 第34-44页 |
| ·非制冷凝视红外焦平面读出电路 | 第44-52页 |
| ·红外焦平面阵列读出电路读出方式 | 第45-47页 |
| ·非制冷红外焦平面阵列输入电路 | 第47-52页 |
| ·非制冷凝视红外焦平面成像模型 | 第52-55页 |
| ·本章小结 | 第55-57页 |
| 3 非制冷凝视红外焦平面微扫描理论 | 第57-77页 |
| ·引言 | 第57-58页 |
| ·微扫描成像的理论基础 | 第58-65页 |
| ·微扫描成像方案比较 | 第65-69页 |
| ·改进的平板光学元件微扫描方案及锗片倾斜角度模型 | 第69-75页 |
| ·改进的平板光学元件微扫描方案 | 第69-73页 |
| ·平板光学元件微扫描的锗片倾斜角度模型 | 第73-75页 |
| ·本章小结 | 第75-77页 |
| 4 高性能驱动电路技术 | 第77-99页 |
| ·引言 | 第77页 |
| ·低噪声偏置电压以及高精度数字信号的实现 | 第77-86页 |
| ·红外焦平面阵列自适应驱动技术 | 第86-95页 |
| ·红外焦平面阵列自适应数字化技术 | 第87-91页 |
| ·红外焦平面阵列自适应偏置电压技术 | 第91-95页 |
| ·红外焦平面阵列多次采样滤波技术 | 第95-97页 |
| ·本章小结 | 第97-99页 |
| 5 微扫描成像技术的具体实现 | 第99-117页 |
| ·引言 | 第99页 |
| ·红外光学系统选取 | 第99-104页 |
| ·微扫描器的设计 | 第104-111页 |
| ·平板光学元件倾斜角度的确定 | 第104-106页 |
| ·微扫描器支撑圆盘结构设计 | 第106-111页 |
| ·驱动电机的选取 | 第111-116页 |
| ·本章小结 | 第116-117页 |
| 6 模型验证以及技术性能评估 | 第117-147页 |
| ·引言 | 第117页 |
| ·非制冷红外焦平面成像模型验证 | 第117-124页 |
| ·低噪声偏置电压以及高精度数字信号技术性能验证 | 第124-129页 |
| ·红外焦平面阵列自适应驱动技术性能验证 | 第129-133页 |
| ·红外焦平面阵列多次采样滤波技术性能验证 | 第133-137页 |
| ·微扫描成像模型验证及技术性能评估 | 第137-141页 |
| ·高性能红外微扫描热像仪整机整体性能评估 | 第141-145页 |
| ·本章小结 | 第145-147页 |
| 7 结束语 | 第147-150页 |
| ·论文总结 | 第147-149页 |
| ·研究展望 | 第149-150页 |
| 致谢 | 第150-151页 |
| 参考文献 | 第151-163页 |
| 附录 | 第163-164页 |
