| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-14页 |
| ·引言 | 第8页 |
| ·仪器技术的发展 | 第8-11页 |
| ·虚拟仪器的概念 | 第9-10页 |
| ·虚拟仪器的组成 | 第10页 |
| ·虚拟仪器的发展和应用 | 第10-11页 |
| ·自动测试系统概述 | 第11-12页 |
| ·PXI 总线系统 | 第12-13页 |
| ·PXI 总线系统概述 | 第12页 |
| ·PXI 规范的电气性能 | 第12页 |
| ·PXI 总线优点 | 第12-13页 |
| ·本文的研究内容及其意义 | 第13-14页 |
| 第二章 DC/DC 电源板测试系统的总体分析研究 | 第14-22页 |
| ·概述 | 第14页 |
| ·系统设计要求 | 第14-15页 |
| ·DC/DC 电源板系统介绍 | 第15-17页 |
| ·DC/DC 板组成电路 | 第15-16页 |
| ·DC/DC 板性能参数 | 第16-17页 |
| ·系统测试功能的需求分析 | 第17页 |
| ·系统测试总体结构 | 第17-18页 |
| ·测试系统硬件组成 | 第18页 |
| ·测试系统软件选择 | 第18-20页 |
| ·测试系统实现途径 | 第20-21页 |
| ·本章小结 | 第21-22页 |
| 第三章 测试系统的硬件设计和实现 | 第22-30页 |
| ·概述 | 第22页 |
| ·PXI 测试系统的分析和组建 | 第22-25页 |
| ·PXI 总线优点 | 第22-23页 |
| ·PXI 系统的组建 | 第23-25页 |
| ·测试夹具的结构设计 | 第25页 |
| ·底板电路设计 | 第25-29页 |
| ·模拟负载电路设计 | 第25-27页 |
| ·开关频率检测电路设计 | 第27-28页 |
| ·通信接口电路设计 | 第28页 |
| ·输入源控制开关电路设计 | 第28页 |
| ·过流保护电路设计 | 第28-29页 |
| ·本章小结 | 第29-30页 |
| 第四章 测试系统的软件设计和实现 | 第30-44页 |
| ·概述 | 第30页 |
| ·LabVIEW 简介 | 第30-32页 |
| ·概述 | 第30页 |
| ·LabVIEW 的工作过程 | 第30-32页 |
| ·测试软件流程设计 | 第32-34页 |
| ·系统测试流程设计 | 第33-34页 |
| ·功能子模块VI 程序设计 | 第34-41页 |
| ·模拟负载设定VI 程序设计 | 第34-35页 |
| ·开关频率测试VI 程序设计 | 第35-36页 |
| ·纹波测试VI 程序设计 | 第36-39页 |
| ·通信子模块VI 程序设计 | 第39-41页 |
| ·系统人机界面设计 | 第41-43页 |
| ·本章小结 | 第43-44页 |
| 第五章 DC/DC 电源板数据分析统计功能设计 | 第44-57页 |
| ·概述 | 第44页 |
| ·数据库的设计 | 第44-47页 |
| ·数据库访问技术 | 第44-45页 |
| ·Microsoft Access 数据以及LabSQL 简介 | 第45页 |
| ·LabSQL 实现数据库查询 | 第45-46页 |
| ·LabSQL 实现记录的添加 | 第46-47页 |
| ·LabVIEW 数理统计模块 | 第47-48页 |
| ·工序能力指数计算功能 | 第48-52页 |
| ·工序能力的定义 | 第48页 |
| ·工序能力指数的计算 | 第48-49页 |
| ·工序能力指数与成品率 | 第49页 |
| ·测试数据正态分布判断 | 第49-52页 |
| ·统计过程控制 | 第52-56页 |
| ·控制图 | 第52-53页 |
| ·过程受控状态的判断准则 | 第53-54页 |
| ·控制图的软件实现及应用实例 | 第54-55页 |
| ·控制图的选用原则 | 第55-56页 |
| ·本章小结 | 第56-57页 |
| 第六章 测试结果与课题总结 | 第57-61页 |
| ·测试数据结果分析 | 第57-58页 |
| ·测试系统成果 | 第58-59页 |
| ·论文总结与展望 | 第59-61页 |
| ·论文总结 | 第59-60页 |
| ·技术展望 | 第60-61页 |
| 致谢 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-66页 |
| 附录A：部分测试数据报告 | 第66-73页 |
| 附录B：作者在攻读硕士学位期间发表的论文 | 第73页 |