| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-15页 |
| 1.1 引言 | 第10-11页 |
| 1.2 研究背景 | 第11-13页 |
| 1.3 研究意义 | 第13页 |
| 1.4 国内外研究现状 | 第13-14页 |
| 1.5 本论文研究内容 | 第14-15页 |
| 第二章 TFT-LCD液晶安全范围的理论基础 | 第15-31页 |
| 2.1 TFT-LCD的结构和功能 | 第15-18页 |
| 2.2 液晶显示基础 | 第18-21页 |
| 2.2.1 液晶化学性能 | 第18-20页 |
| 2.2.2 液晶物理性能 | 第20-21页 |
| 2.3 液晶安全范围 | 第21-24页 |
| 2.3.1 为什么需要有液晶安全范围 | 第21-23页 |
| 2.3.2 液晶安全范围定义 | 第23-24页 |
| 2.4 分析工具 | 第24-28页 |
| 2.4.1 失效模式及影响分析(FMEA) | 第24-27页 |
| 2.4.2 多元线性回归模型引入 | 第27-28页 |
| 2.5 模型建立软件Minitab介绍 | 第28-30页 |
| 2.6 本章小结 | 第30-31页 |
| 第三章 TFT-LCD液晶安全范围建模与应用 | 第31-63页 |
| 3.1 引言 | 第31页 |
| 3.2 影响液晶安全范围的关键因子的逻辑树分析 | 第31-37页 |
| 3.2.1 失效模式FMEA分析关联因子 | 第31-34页 |
| 3.2.2 影响液晶安全范围的制程研究 | 第34-37页 |
| 3.3 液晶安全范围试验设计 | 第37-62页 |
| 3.3.1 关键因子筛选 | 第37页 |
| 3.3.2 试验流程图 | 第37-40页 |
| 3.3.3 华星55寸A机种Merck液晶DOE试验条件及结果分析 | 第40-53页 |
| 3.3.4 华星55寸A机种DIC液晶和Merck液晶DOE试验条件及结果分析 | 第53-56页 |
| 3.3.5 跨产品液晶安全范围研究建模 | 第56-60页 |
| 3.3.6 产品液晶安全范围模型建立和应用 | 第60-62页 |
| 3.4 本章小结 | 第62-63页 |
| 结论 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 附件 | 第67页 |