| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 符号对照表 | 第12-13页 |
| 缩略语对照表 | 第13-17页 |
| 第一章 绪论 | 第17-21页 |
| 1.1 开关电源技术概述 | 第17-18页 |
| 1.1.1 开关电源基本定义与发展历史 | 第17-18页 |
| 1.1.2 DC-DC转换器的分类方法 | 第18页 |
| 1.1.3 开关电源技术的发展趋势 | 第18页 |
| 1.2 论文的选题背景和研究意义 | 第18-19页 |
| 1.3 论文的主要工作和章节安排 | 第19-21页 |
| 1.3.1 论文的主要工作及创新点 | 第19-20页 |
| 1.3.2 论文的章节安排 | 第20-21页 |
| 第二章 BOOSTDC-DC转换器的基本原理 | 第21-37页 |
| 2.1 BOOSTDC-DC转换器的基本工作原理 | 第21-28页 |
| 2.1.1 连续导通工作模式(CCM)的稳态分析 | 第22-24页 |
| 2.1.2 非连续导通工作模式(DCM)的稳态分析 | 第24-27页 |
| 2.1.3 临界工作模式(BCM)的稳态分析 | 第27-28页 |
| 2.2 BOOSTDC-DC转换器的调制方式 | 第28-30页 |
| 2.2.1 脉冲宽度调制 | 第28-29页 |
| 2.2.2 脉冲频率调制 | 第29页 |
| 2.2.3 跳周期调制 | 第29页 |
| 2.2.4 PWM-PFM混合调制方式 | 第29-30页 |
| 2.3 BOOSTDC-DC转换器的反馈控制方式 | 第30-34页 |
| 2.3.1 电压模反馈控制方式 | 第30-31页 |
| 2.3.2 电流模反馈控制方式 | 第31-34页 |
| 2.4 本章小结 | 第34-37页 |
| 第三章 芯片的系统设计 | 第37-51页 |
| 3.1 芯片的系统功能与性能指标设计 | 第37-39页 |
| 3.1.1 芯片的系统框图和子模块功能描述 | 第37-38页 |
| 3.1.2 芯片的性能指标设计 | 第38-39页 |
| 3.2 芯片的迟滞窗口产生方法设计 | 第39-41页 |
| 3.3 芯片的低功耗设计 | 第41-44页 |
| 3.3.1 BOOSTDC-DC的功率损耗理论 | 第42-43页 |
| 3.3.2 芯片的低功耗、高效率设计 | 第43-44页 |
| 3.4 芯片的稳定性分析与频率补偿设计 | 第44-48页 |
| 3.4.1 电流内环稳定性分析 | 第44-46页 |
| 3.4.2 电压外环稳定性分析与环路补偿设计 | 第46-48页 |
| 3.5 芯片的外围电路设计 | 第48-49页 |
| 3.6 本章小结 | 第49-51页 |
| 第四章 芯片关键子模块电路设计与仿真验证 | 第51-89页 |
| 4.1 启动电路设计 | 第51-67页 |
| 4.1.1 启动电路整体结构及工作过程分析 | 第51-53页 |
| 4.1.2 低压启动振荡器电路设计 | 第53-55页 |
| 4.1.3 电荷泵电路设计 | 第55-57页 |
| 4.1.4 电平移位电路设计 | 第57-58页 |
| 4.1.5 栅极驱动电路设计 | 第58-63页 |
| 4.1.6 输出电压检测电路设计 | 第63-64页 |
| 4.1.7 启动电路仿真与验证 | 第64-67页 |
| 4.2 自动模式转换电路设计 | 第67-71页 |
| 4.2.1 自动模式转换电路结构 | 第67-68页 |
| 4.2.2 过零检测电路设计 | 第68-70页 |
| 4.2.3 过零检测电路仿真与验证 | 第70-71页 |
| 4.3 带隙基准电压源设计 | 第71-76页 |
| 4.3.1 带隙基准电压源的设计思路 | 第71-72页 |
| 4.3.2 带隙基准电压源电路设计 | 第72-75页 |
| 4.3.3 带隙基准电压源电路仿真验证 | 第75-76页 |
| 4.4 全周期电流采样电路设计 | 第76-80页 |
| 4.4.1 电流采样电路设计思路 | 第76-77页 |
| 4.4.2 全周期电流采样电路设计 | 第77-78页 |
| 4.4.3 全周期电流采样电路仿真验证 | 第78-80页 |
| 4.5 误差放大器电路设计 | 第80-83页 |
| 4.5.1 误差放大器电路设计 | 第80-81页 |
| 4.5.2 误差放大器电路仿真验证 | 第81-83页 |
| 4.6 迟滞比较器电路设计 | 第83-85页 |
| 4.6.1 迟滞比较器电路设计 | 第83-84页 |
| 4.6.2 迟滞比较器电路仿真验证 | 第84-85页 |
| 4.7 过温保护电路设计 | 第85-87页 |
| 4.7.1 过温保护电路设计 | 第86页 |
| 4.7.2 过温保护电路仿真验证 | 第86-87页 |
| 4.8 本章小结 | 第87-89页 |
| 第五章 芯片的整体仿真 | 第89-97页 |
| 5.1 芯片的典型应用电路 | 第89页 |
| 5.2 芯片的整体仿真 | 第89-95页 |
| 5.2.1 启动过程仿真 | 第89-92页 |
| 5.2.2 CCM工作模式仿真 | 第92页 |
| 5.2.3 DCM工作模式仿真 | 第92-93页 |
| 5.2.4 CCM与DCM工作模式自动转换仿真 | 第93-94页 |
| 5.2.5 线性瞬态响应特性仿真 | 第94页 |
| 5.2.6 负载瞬态响应特性仿真 | 第94-95页 |
| 5.3 本章小结 | 第95-97页 |
| 第六章 总结与展望 | 第97-99页 |
| 参考文献 | 第99-103页 |
| 致谢 | 第103-105页 |
| 作者简介 | 第105-106页 |