摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
第1章 绪论 | 第10-19页 |
1.1 课题背景和意义 | 第10-11页 |
1.2 石墨烯/氧化锌异质结的研究进展 | 第11-16页 |
1.2.1 国外研究进展 | 第12-14页 |
1.2.2 国内研究进展 | 第14-16页 |
1.2.3 国内外文献综述 | 第16页 |
1.3 论文主要研究内容 | 第16-19页 |
第2章 材料介绍及样品制备和表征方法 | 第19-31页 |
2.1 纳米材料简介 | 第19-24页 |
2.1.1 石墨烯基本结构和性质 | 第19-21页 |
2.1.2 氧化锌纳米棒阵列 | 第21-22页 |
2.1.3 氮化铝基本结构与性质 | 第22-24页 |
2.1.4 二维范德华异质结 | 第24页 |
2.2 实验制备方法 | 第24-27页 |
2.2.1 磁控溅射设备及原理 | 第24-26页 |
2.2.2 化学溶液法制备原理及实验设备 | 第26页 |
2.2.3 实验所需材料 | 第26-27页 |
2.3 实验表征技术及设备 | 第27-31页 |
2.3.1 X射线衍射仪 | 第27-28页 |
2.3.2 扫描电子显微镜 | 第28页 |
2.3.3 原子力显微镜 | 第28-29页 |
2.3.4 紫外可见分光光度计 | 第29页 |
2.3.5 伏安特性测试 | 第29-30页 |
2.3.6 显微拉曼光谱仪 | 第30-31页 |
第3章 石墨烯辅助氧化锌纳米棒的生长及性能分析 | 第31-45页 |
3.1 石墨烯的湿法转移 | 第31-34页 |
3.2 不同衬底上氧化锌纳米棒的制备与表征 | 第34-40页 |
3.2.1 不同衬底上氧化锌纳米棒形貌分析 | 第34-37页 |
3.2.2 不同衬底上氧化锌纳米棒结构分析 | 第37-39页 |
3.2.3 不同衬底上氧化锌纳米棒光学性能 | 第39-40页 |
3.3 氧锌镁/氧化锌纳米棒阵列异质结 | 第40-43页 |
3.3.1 氧锌镁/氧化锌纳米棒阵列异质结形貌分析 | 第40-41页 |
3.3.2 氧锌镁/氧化锌纳米棒阵列异质的结构分析 | 第41页 |
3.3.3 氧锌镁/氧化锌纳米棒阵列异质的光学性能分析 | 第41-43页 |
3.4 本章小结 | 第43-45页 |
第4章 石墨烯辅助氮化铝的生长及性能分析 | 第45-59页 |
4.1 引言 | 第45页 |
4.2 氮气浓度对石墨烯辅助生长氮化铝薄膜的影响 | 第45-50页 |
4.2.1 氮化铝薄膜的制备工艺及参数 | 第45-46页 |
4.2.2 氮化铝薄膜的晶体结构分析 | 第46-47页 |
4.2.3 氮化铝薄膜的组分及化学结构 | 第47-48页 |
4.2.4 氮化铝薄膜的表面形貌分析 | 第48-49页 |
4.2.5 氮化铝薄膜的光学性能 | 第49-50页 |
4.3 溅射气压对石墨烯辅助生长氮化铝薄膜的影响 | 第50-54页 |
4.3.1 氮化铝薄膜的组分及化学结构 | 第50-51页 |
4.3.2 氮化铝薄膜的晶体结构分析 | 第51-53页 |
4.3.3 氮化铝薄膜的表面形貌分析 | 第53-54页 |
4.3.4 氮化铝薄膜的光学性能 | 第54页 |
4.4 退火处理对石墨烯辅助生长氮化铝薄膜的影响 | 第54-58页 |
4.4.1 氮化铝薄膜的晶体结构分析 | 第55页 |
4.4.2 氮化铝薄膜的表面形貌分析 | 第55-56页 |
4.4.3 氮化铝薄膜的光学性能 | 第56-58页 |
4.5 本章小结 | 第58-59页 |
第5章 宽光谱探测器的测试与分析 | 第59-65页 |
5.1 引言 | 第59页 |
5.2 宽光谱探测器的制备及光电性能研究 | 第59-63页 |
5.2.1 宽光谱探测器的制备 | 第59-61页 |
5.2.2 宽光谱探测器光电性能研究 | 第61-63页 |
5.3 本章小结 | 第63-65页 |
结论 | 第65-66页 |
参考文献 | 第66-72页 |
致谢 | 第72页 |