摘要 | 第5-7页 |
Abstract | 第7-8页 |
第一章 绪论 | 第12-30页 |
1.1 引言 | 第12-13页 |
1.2 固态电解质的概述 | 第13-14页 |
1.3 氧离子导体固态电解质的分类 | 第14-20页 |
1.3.1 ZrO_2基固态电解质材料 | 第15-16页 |
1.3.2 Bi_2O_3基固态电解质材料 | 第16-17页 |
1.3.3 LaGaO_3基电解质材料 | 第17-20页 |
1.3.4 CeO_2基固态电解质材料 | 第20页 |
1.4 掺杂CeO_2基固态电解质的导电机制及研究现状 | 第20-26页 |
1.4.1 影响掺杂CeO_2基固态电解质电导率的因素 | 第22-23页 |
1.4.2 提高掺杂CeO_2基固态电解质的电导率的方法 | 第23-26页 |
1.4.3 掺杂CeO_2基固态电解质的研究现状 | 第26页 |
1.5 掺杂CeO_2/Al_2O_3复相陶瓷的导电机制及研究现状 | 第26-28页 |
1.5.1 掺杂CeO_2/Al_2O_3复相陶瓷的概述 | 第26-27页 |
1.5.2 掺杂CeO_2/Al_2O_3复相陶瓷的研究现状 | 第27-28页 |
1.6 本文的选题依据、研究内容及创新点 | 第28-30页 |
1.6.1 选题依据 | 第28页 |
1.6.2 研究内容及创新点 | 第28-30页 |
第二章 材料制备及表征 | 第30-40页 |
2.1 实验所用药品及仪器 | 第30页 |
2.1.1 原料 | 第30页 |
2.1.2 仪器设备 | 第30页 |
2.2 实验材料制备流程及工艺参数 | 第30-33页 |
2.2.1 SDC20/Al_2O_3陶瓷样品的制备流程 | 第30-31页 |
2.2.2 粉末样品的制备 | 第31-32页 |
2.2.3 陶瓷样品的制备 | 第32-33页 |
2.3 样品的表征 | 第33-40页 |
2.3.1 X射线衍射(XRD)分析 | 第33页 |
2.3.2 扫描电子显微镜(SEM)分析 | 第33页 |
2.3.3 透射电子显微镜(TEM)分析 | 第33-34页 |
2.3.4 直流法电导率测试 | 第34-35页 |
2.3.5 电化学阻抗谱法电导率测试 | 第35-36页 |
2.3.6 离子迁移率测试 | 第36-37页 |
2.3.7 SDC20/Al_2O_3陶瓷样品的密度分析 | 第37-38页 |
2.3.8 维氏硬度(HV)测试 | 第38-40页 |
第三章 Al_2O_3的掺量对SDC20/Al_2O_3复相陶瓷导电行为的影响 | 第40-60页 |
3.1 引言 | 第40-41页 |
3.2 SDC20粉末样品的物相分析 | 第41-42页 |
3.3 SDC20/Al_2O_3粉末样品的物相分析 | 第42-43页 |
3.4 SDC20/Al_2O_3片状陶瓷样品的物相分析 | 第43-46页 |
3.5 SDC20/Al_2O_3片状陶瓷样品的微观形貌分析 | 第46-51页 |
3.6 不同掺量的Al_2O_3对SDC20/Al_2O_3片状陶瓷样品烧结密度的影响 | 第51页 |
3.7 SDC20/Al_2O_3片状陶瓷样品的导电行为测试 | 第51-56页 |
3.7.1 电化学阻抗谱法电导率测试 | 第51-54页 |
3.7.2 直流电导率测试 | 第54-55页 |
3.7.3 离子迁移数测试 | 第55-56页 |
3.8 维氏显微硬度测试 | 第56-57页 |
3.9 本章小节 | 第57-60页 |
第四章 烧结温度对SDC20/Al_2O_3导电行为的影响 | 第60-68页 |
4.1 引言 | 第60-61页 |
4.2 不同的烧结温度对SDC20/Al_2O_3陶瓷物相的影响 | 第61页 |
4.3 不同的烧结温度对SDC20/Al_2O_3陶瓷样品微观结构的影响. | 第61-63页 |
4.4 不同的烧结温度对SDC20/Al_2O_3陶瓷样品致密度的影响 | 第63页 |
4.5 不同的烧结温度对SDC20/Al_2O_3陶瓷样品电化学性能的影响 | 第63-65页 |
4.6 本章小结 | 第65-68页 |
第五章 结论和展望 | 第68-72页 |
5.1 结论 | 第68-69页 |
5.2 展望 | 第69-72页 |
致谢 | 第72-74页 |
参考文献 | 第74-80页 |
附录:攻读硕士学位期间发表论文 | 第80页 |