| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-19页 |
| 1.1 相控阵雷达的背景及意义 | 第10-11页 |
| 1.2 相控阵雷达T/R组件 | 第11-13页 |
| 1.2.1 T/R组件在有源相控阵雷达中的作用 | 第11-12页 |
| 1.2.2 T/R组件的发展概况 | 第12-13页 |
| 1.3 高功率微波效应 | 第13-18页 |
| 1.3.1 高功率微波武器及其特点 | 第13-14页 |
| 1.3.2 高功率效应及其作用对象 | 第14-15页 |
| 1.3.3 高功率微波效应的研究方法 | 第15-16页 |
| 1.3.4 高功率微波效应的研究现状 | 第16-18页 |
| 1.4 学位论文研究简述 | 第18-19页 |
| 第二章 相控阵雷达T/R组件的原理 | 第19-32页 |
| 2.1 T/R组件的系统结构 | 第19-22页 |
| 2.1.1 T/R组件的组成 | 第19-21页 |
| 2.1.2 T/R组件的工作原理 | 第21-22页 |
| 2.2 T/R组件的技术要求与技术指标 | 第22-23页 |
| 2.2.1 T/R组件的技术要求 | 第22页 |
| 2.2.2 T/R组件的技术指标 | 第22-23页 |
| 2.3 放大器的理论基础与技术指标 | 第23-29页 |
| 2.3.1 噪声系数 | 第23-25页 |
| 2.3.2 功率增益 | 第25-28页 |
| 2.3.3 动态范围 | 第28-29页 |
| 2.4 移相器的理论与技术指标 | 第29-31页 |
| 2.4.1 移相器的分类 | 第29-30页 |
| 2.4.2 移相器的主要技术指标 | 第30-31页 |
| 2.5 小结 | 第31-32页 |
| 第三章 Ka波段T/R组件的HPM压缩效应研究 | 第32-45页 |
| 3.1 HPM线性效应与非线性效应 | 第32-33页 |
| 3.2 非线性压缩效应的原理 | 第33-35页 |
| 3.3 Ka波段相控阵雷达T/R组件的非线性压缩效应实验研究 | 第35-43页 |
| 3.3.1 芯片的选型与测试夹具的加工 | 第35-37页 |
| 3.3.2 实验原理与平台搭建 | 第37-38页 |
| 3.3.3 实验的过程以及结果分析 | 第38-43页 |
| 3.4 小结 | 第43-45页 |
| 第四章 Ka波段相控阵雷达T/R组件的HPM损伤效应研究 | 第45-65页 |
| 4.1 研究内容与测试指标 | 第45-48页 |
| 4.2 芯片的选型与测试平台的搭建 | 第48-51页 |
| 4.2.1 芯片的选型 | 第48页 |
| 4.2.2 测试平台的搭建 | 第48-51页 |
| 4.3 收发放大多功能芯片和幅相控制芯片的大功率脉冲测试 | 第51-63页 |
| 4.3.1 检波器与衰减器的标定 | 第51-52页 |
| 4.3.2 收发放大多功能芯片大功率脉冲测试 | 第52-58页 |
| 4.3.3 幅相控制芯片的大功率脉冲测试 | 第58-63页 |
| 4.4 Ka波段相控阵雷达T/R组件关键芯片的损伤机理研究 | 第63-64页 |
| 4.5 小结 | 第64-65页 |
| 第五章 总结 | 第65-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-68页 |
