| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 第1章 综述 | 第8-26页 |
| ·常见指纹检测方法概述 | 第8-16页 |
| ·物理显现法 | 第9-10页 |
| ·化学显现法 | 第10-14页 |
| ·光学显现法 | 第14-15页 |
| ·其它种类的方法 | 第15-16页 |
| ·量子点及其它荧光纳米材料在指纹检测方面的应用 | 第16-22页 |
| ·量子点的基本性质 | 第16-17页 |
| ·量子点的荧光特性 | 第17-18页 |
| ·量子点及其它纳米材料应用于指纹检测 | 第18-21页 |
| ·指纹显现方法及显现顺序综合分析 | 第21-22页 |
| ·指纹显现技术存在问题及前景展望 | 第22-23页 |
| ·量子点的表面修饰情况 | 第23-26页 |
| 第2章 CdTe@CdS核壳量子点的合成和指纹检测应用 | 第26-34页 |
| ·引言 | 第26-27页 |
| ·实验部分 | 第27-28页 |
| ·仪器与试剂 | 第27页 |
| ·CdTe@CdS核壳量子点的水相制备 | 第27-28页 |
| ·指纹显现方法 | 第28页 |
| ·结果与讨论 | 第28-31页 |
| ·回流时间对量子点光谱性质的影响 | 第28-29页 |
| ·单核与核壳型量子点的比较 | 第29-31页 |
| ·CdTe@CdS量子点溶液显现指纹 | 第31页 |
| ·指纹显现的可能机理 | 第31页 |
| ·小结 | 第31-34页 |
| 第3章 L-半胱氨酸包覆的CdTe量子点的指纹检测应用及表面修饰 | 第34-46页 |
| ·引言 | 第34-36页 |
| ·实验部分 | 第36-38页 |
| ·仪器与试剂 | 第36页 |
| ·CdTe量子点显现剂的制备 | 第36-37页 |
| ·L-半胱氨酸包覆的CdTe量子点的表面修饰 | 第37页 |
| ·CdTe量子点显现指纹步骤 | 第37-38页 |
| ·结果与讨论 | 第38-44页 |
| ·L-半胱氨酸修饰的CdTe量子点的光谱表征 | 第38页 |
| ·CdTe量子点粉末显现指纹 | 第38-39页 |
| ·L-半胱氨酸与L-精氨酸连接反应的红外表征情况 | 第39-43页 |
| ·CdTe量子点修饰L-精氨酸后的性质变化 | 第43-44页 |
| ·小结 | 第44-46页 |
| 总结 | 第46-48页 |
| 参考文献 | 第48-62页 |
| 致谢 | 第62-64页 |
| 攻读硕士学位期间的研究成果 | 第64页 |