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铜与钌电化学机械抛光及其特性的研究

摘要第4-5页
Abstract第5-6页
第1章 绪论第11-25页
    1.1 课题背景及研究目的和意义第11-13页
    1.2 国内外研究现状第13-23页
        1.2.1 铜的电化学机械抛光第13-17页
        1.2.2 钌的电化学机械抛光第17-19页
        1.2.3 电化学机械抛光的材料去除模型第19-23页
    1.3 论文的主要研究内容第23-25页
第2章 电化学机械抛光装置及相关的实验条件与方法第25-40页
    2.1 电化学机械抛光模拟实验机第25-29页
        2.1.1 铜电化学机械抛光模拟实验机第25-27页
        2.1.2 钌电化学机械抛光模拟实验机第27-29页
    2.2 实验材料与化学试剂第29-31页
        2.2.1 实验材料第29-30页
        2.2.2 化学试剂第30-31页
    2.3 电化学测量方法第31-36页
        2.3.1 线性扫描伏安法第31页
        2.3.2 Tafel曲线外推法第31-32页
        2.3.3 静态电化学阻抗谱法第32-34页
        2.3.4 单频率电化学阻抗谱法第34-36页
    2.4 电化学机械抛光性能评价指标第36-37页
    2.5 纳米压痕与划痕实验方法第37-39页
    2.6 表面检测方法第39页
    2.7 本章小结第39-40页
第3章 铜电化学机械抛光及其特性的研究第40-67页
    3.1 铜电化学机械抛光液的综合评价与优选第40-59页
        3.1.1 TTA与BTA试剂的腐蚀抑制性能研究第40-43页
        3.1.2 TTA与氯离子协同抑制作用的综合研究第43-51页
        3.1.3 酸性抛光液的综合优选第51-56页
        3.1.4 碱性抛光液的综合优选第56-58页
        3.1.5 铜电化学机械抛光表面质量研究第58-59页
    3.2 铜电化学机械抛光的摩擦电化学性能研究第59-64页
        3.2.1 电化学机械抛光过程中的摩擦功率第59-61页
        3.2.2 电化学机械抛光过程的单频阻抗分析第61-63页
        3.2.3 摩擦功率与阻抗的关系分析第63-64页
    3.3 铜电化学机械抛光钝化层表征第64-66页
        3.3.1 静态阻抗谱法第64-65页
        3.3.2 钝化层的XPS表征第65-66页
    3.4 本章小结第66-67页
第4章 铜电化学机械抛光划痕预测模型的研究第67-83页
    4.1 铜基钝化膜机械性能确定第67-71页
    4.2 铜电化学机械抛光的划痕预测模型第71-82页
        4.2.1 基于抛光垫凸峰/铜光滑平表面接触的Saka模型第74-76页
        4.2.2 基于铜表面微凸峰体嵌入抛光垫凸峰的划痕预测模型第76-82页
    4.3 本章小结第82-83页
第5章 钌电化学机械抛光及其特性的研究第83-100页
    5.1 电解液的优选第83-89页
    5.2 力/线速度对钌电化学机械抛光特性的影响第89-92页
    5.3 外加电势对钌电化学机械抛光特性的影响第92-95页
    5.4 钌电化学机械抛光影响因素的综合评价第95-99页
    5.5 本章小结第99-100页
第6章 铜与钌间的电偶腐蚀研究第100-106页
    6.1 铜与钌电偶腐蚀的电化学评价第100-105页
    6.2 铜与钌电偶腐蚀的表面形貌第105页
    6.3 本章小结第105-106页
结论第106-108页
参考文献第108-117页
攻读博士期间发表的论文及其它成果第117-119页
致谢第119-120页
个人简历第120页

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