SRAM芯片内自修复模块设计与实现
| 致谢 | 第5-6页 |
| 摘要 | 第6-7页 |
| ABSTRACT | 第7页 |
| 序言 | 第9-12页 |
| 1 引言 | 第12-18页 |
| 1.1 存储芯片发展趋势与遇到的问题 | 第12-13页 |
| 1.2 自修复国内外研究现状 | 第13-16页 |
| 1.3 主要难点 | 第16-17页 |
| 1.4 论文主要研究目标以及章节安排 | 第17-18页 |
| 2 SRAM故障分类 | 第18-22页 |
| 2.1 SRAM功能结构 | 第18-19页 |
| 2.2 SRAM故障类型 | 第19-21页 |
| 2.2.1 单元故障类型 | 第19-20页 |
| 2.2.2 存储器故障地址类型 | 第20-21页 |
| 2.3 故障检测 | 第21页 |
| 2.4 本章小结 | 第21-22页 |
| 3 自修复方案 | 第22-36页 |
| 3.1 RM自修复 | 第22-30页 |
| 3.2 ESP自修复 | 第30-33页 |
| 3.3 RR自修复 | 第33-35页 |
| 3.4 本章小结 | 第35-36页 |
| 4 自修复芯片设计与成本分析 | 第36-65页 |
| 4.1 自修复芯片设计 | 第36-56页 |
| 4.1.1 整体模块划分 | 第37-38页 |
| 4.1.2 模块实现与前端仿真 | 第38-49页 |
| 4.1.3 逻辑综合 | 第49-51页 |
| 4.1.4 静态时序分析 | 第51-53页 |
| 4.1.5 后端设计 | 第53-56页 |
| 4.2 成本分析 | 第56-64页 |
| 4.2.1 修复率分析 | 第56-60页 |
| 4.2.2 面积占比分析 | 第60-61页 |
| 4.2.3 测试时间成本分析 | 第61-62页 |
| 4.2.4 芯片成本分析 | 第62-64页 |
| 4.3 本章小结 | 第64-65页 |
| 5 结论 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-69页 |
| 索引 | 第69-70页 |
| 作者简历及攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第70-72页 |
| 学位论文数据集 | 第72页 |
