COTS器件ADV212的宇航应用研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-9页 |
| 第二章 COTS 技术的研究现状 | 第9-15页 |
| ·国外关于COTS 应用经验 | 第9-10页 |
| ·COTS 技术应用现状 | 第10-11页 |
| ·制造厂商关于COTS 研发应用 | 第11-12页 |
| ·MAXIM 推出加固塑封器件 | 第11页 |
| ·TI 公司 PEM 被列入 QML | 第11页 |
| ·3D-PLUS 公司生产的宇航用塑封器件 | 第11-12页 |
| ·小结 | 第12页 |
| ·PEM 常见失效 | 第12-14页 |
| ·小结 | 第14-15页 |
| 第三章 ADV212 器件简介 | 第15-19页 |
| ·ADV212 特性介绍 | 第15-16页 |
| ·ADV212 原理框图 | 第16页 |
| ·ADV212 压缩编码原理 | 第16-17页 |
| ·ADV212 应用领域 | 第17页 |
| ·ADV212 选用必要性分析 | 第17-18页 |
| ·ADV212 器件选用风险分析 | 第18-19页 |
| 第四章 ADV212 质量保证 | 第19-39页 |
| ·ADV212 质量保证方案综述 | 第19-20页 |
| ·关键试验项目介绍及可行性论证 | 第20-23页 |
| ·超声波扫描显微镜 | 第20-21页 |
| ·高加速应力试验 | 第21页 |
| ·挥发 | 第21-22页 |
| ·抗辐照 | 第22页 |
| ·可行性论证 | 第22-23页 |
| ·ADV212 质量保证方案 | 第23-30页 |
| ·总体方案 | 第23页 |
| ·环境试验及要求 | 第23-24页 |
| ·板级试验要求 | 第24页 |
| ·质量保证程序 | 第24-26页 |
| ·板级系统设计 | 第26-30页 |
| ·ADV212 质量保证结论 | 第30-39页 |
| ·筛选试验 | 第30-35页 |
| ·鉴定试验 | 第35-36页 |
| ·评价试验 | 第36-38页 |
| ·结论 | 第38-39页 |
| 第五章 ADV212 宇航应用建议 | 第39-49页 |
| ·抗辐照评估 | 第39-43页 |
| ·电离辐射效应 | 第39-41页 |
| ·单粒子效应 | 第41-43页 |
| ·FMEA 分析 | 第43-44页 |
| ·降额设计 | 第44-45页 |
| ·热设计 | 第45-46页 |
| ·存储及安装要求 | 第46-49页 |
| 第六章 结论 | 第49-51页 |
| 致谢 | 第51-53页 |
| 参考文献 | 第53-55页 |
