电器产品贮存寿命分析方法的研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-14页 |
| 1.1 引言 | 第8-9页 |
| 1.2 加速寿命试验的发展现状 | 第9-10页 |
| 1.3 贮存寿命预测方法的发展现状 | 第10-13页 |
| 1.4 本文主要研究内容 | 第13-14页 |
| 第二章 影响电磁继电器贮存寿命的因素 | 第14-22页 |
| 2.1 电磁继电器的结构及工作原理 | 第14-15页 |
| 2.2 影响电磁继电器失效的环境因素 | 第15-17页 |
| 2.3 贮存环境下继电器的失效机理 | 第17-21页 |
| 2.3.1 继电器接触失效模式 | 第17-18页 |
| 2.3.2 继电器的失效机理 | 第18-21页 |
| 2.4 本章小结 | 第21-22页 |
| 第三章 加速寿命试验方法的研究 | 第22-32页 |
| 3.1 加速寿命试验理论基础 | 第22-25页 |
| 3.1.1 加速寿命试验定义 | 第22页 |
| 3.1.2 加速寿命试验分类 | 第22-24页 |
| 3.1.3 加速寿命试验类型的确定 | 第24-25页 |
| 3.2 加速寿命试验加速模型 | 第25-28页 |
| 3.2.1 阿伦尼斯(Arrhenius)模型 | 第26页 |
| 3.2.2 逆幂律模型 | 第26-27页 |
| 3.2.3 艾林模型 | 第27页 |
| 3.2.4 温湿度模型 | 第27-28页 |
| 3.3 电磁继电器贮存加速寿命试验方案的确定 | 第28-31页 |
| 3.4 本章小结 | 第31-32页 |
| 第四章 灰色模型的建立及其改进方法 | 第32-68页 |
| 4.1 灰色系统理论的基本内容 | 第32-35页 |
| 4.1.1 灰色系统理论的概念 | 第32-33页 |
| 4.1.2 灰色系统理论的主要内容 | 第33-34页 |
| 4.1.3 灰色预测方法 | 第34-35页 |
| 4.2 灰色模型的建立 | 第35-42页 |
| 4.2.1 灰色GM(1,1)模型的建立 | 第35-38页 |
| 4.2.2 灰色Verhulst模型的建立 | 第38-39页 |
| 4.2.3 灰色模型精度检验 | 第39-42页 |
| 4.3 灰色模型的改进 | 第42-46页 |
| 4.3.1 GM(1,1)模型的改进 | 第42-44页 |
| 4.3.2 灰色Verhulst模型的改进 | 第44-46页 |
| 4.4 灰色模型的应用 | 第46-62页 |
| 4.4.1 GM(1,1)的应用 | 第46-54页 |
| 4.4.2 灰色Verhulst模型的应用 | 第54-62页 |
| 4.5 几种其它的预测方法 | 第62-66页 |
| 4.5.1 一元线性回归模型预测 | 第62-64页 |
| 4.5.2 指数回归模型预测 | 第64-66页 |
| 4.6 本章小结 | 第66-68页 |
| 第五章 结论 | 第68-70页 |
| 参考文献 | 第70-74页 |
| 攻读学位期间所取得的相关科研成果 | 第74-76页 |
| 致谢 | 第76页 |
