新型超高频RFID近场读写器天线的研究与设计
摘要 | 第4-5页 |
ABSTRACT | 第5-6页 |
第一章 绪论 | 第9-17页 |
1.1 RFID技术背景 | 第9-14页 |
1.1.1 RFID技术简介 | 第9-12页 |
1.1.2 国内外发展情况 | 第12-14页 |
1.2 课题研究背景 | 第14-16页 |
1.2.1 课题研究难点 | 第14-15页 |
1.2.2 国内外研究现状 | 第15-16页 |
1.3 课题研究内容 | 第16-17页 |
第二章 RFID系统基本理论 | 第17-30页 |
2.1 RFID系统简介 | 第17-21页 |
2.1.1 系统工作原理 | 第17-19页 |
2.1.2 系统工作频率 | 第19-20页 |
2.1.3 系统工作制式 | 第20-21页 |
2.2 RFID天线基础 | 第21-26页 |
2.2.1 电磁基本理论 | 第22页 |
2.2.2 天线参数 | 第22-24页 |
2.2.3 天线场区 | 第24-26页 |
2.3 超高频RFID近场系统电磁特性 | 第26-29页 |
2.3.1 超高频近场系统近场区 | 第26-27页 |
2.3.2 超高频近场系统耦合系数 | 第27页 |
2.3.3 近场系统天线性能指标 | 第27-29页 |
2.4 本章小结 | 第29-30页 |
第三章 新型超高频RFID近场读写器天线的设计 | 第30-50页 |
3.1 典型超高频近场读写器天线介绍 | 第30-38页 |
3.1.1 环形近场天线 | 第30-35页 |
3.1.2 共面波导结构近场天线 | 第35页 |
3.1.3 微带结构近场天线 | 第35-38页 |
3.2 新型超高频近场读写器的设计与研究 | 第38-49页 |
3.2.1 设计原理 | 第38-40页 |
3.2.2 基本天线结构与仿真分析 | 第40-42页 |
3.2.3 天线优化结构与仿真分析 | 第42-45页 |
3.2.4 参数仿真分析 | 第45-49页 |
3.3 本章小结 | 第49-50页 |
第四章 近场系统测试与应用平台 | 第50-63页 |
4.1 磁场耦合系统的测试 | 第50-53页 |
4.1.1 测试系统的搭建 | 第50-51页 |
4.1.2 读写范围分析 | 第51-53页 |
4.2 电场耦合系统的测试 | 第53-58页 |
4.2.1 新型天线近区电场表现 | 第53-55页 |
4.2.2 测试系统的搭建 | 第55-56页 |
4.2.3 读写范围分析 | 第56-58页 |
4.3 珠宝管理系统应用平台 | 第58-62页 |
4.3.1 系统简介 | 第58-60页 |
4.3.2 具体应用场景 | 第60-62页 |
4.4 本章小结 | 第62-63页 |
第五章 总结与前瞻 | 第63-66页 |
5.1 全文总结 | 第63-64页 |
5.2 未来展望 | 第64-66页 |
参考文献 | 第66-69页 |
致谢 | 第69-70页 |
攻读学位期间发表的学术论文 | 第70页 |