500kV蝶岭站钢化玻璃绝缘子自爆原因分析
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-13页 |
| 1.1 选题背景和意义 | 第9页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第9-12页 |
| 1.3 论文的主要内容 | 第12-13页 |
| 第二章 500kV蝶岭站绝缘子运行状态分析 | 第13-22页 |
| 2.1 蝶岭站自爆绝缘子的统计数据分析 | 第13-19页 |
| 2.1.1 耐张串绝缘子自爆率分析 | 第15-18页 |
| 2.1.2 V型串绝缘子自爆分析 | 第18-19页 |
| 2.1.3 I型串绝缘子自爆分析 | 第19页 |
| 2.2.绝缘子气象环境分析 | 第19-21页 |
| 2.3 本章小结 | 第21-22页 |
| 第三章 500kV蝶岭站绝缘子电场分析 | 第22-34页 |
| 3.1 单个绝缘子电场仿真 | 第23-26页 |
| 3.1.1 单个绝缘子仿真结果 | 第24-25页 |
| 3.1.2 单个绝缘子仿真结果分析 | 第25-26页 |
| 3.2 I型串绝缘子电场仿真 | 第26-29页 |
| 3.2.1 I型串绝缘子仿真结果 | 第26-29页 |
| 3.3 V串绝缘子电场仿真 | 第29-33页 |
| 3.3.1 V串绝缘子仿真结果 | 第30-33页 |
| 3.4 本章小结 | 第33-34页 |
| 第四章 绝缘子力学仿真分析 | 第34-40页 |
| 4.1 绝缘子结构 | 第34页 |
| 4.2 绝缘子应力场仿真建模 | 第34-36页 |
| 4.3 绝缘子应力场仿真结果 | 第36-39页 |
| 4.4 本章小结 | 第39-40页 |
| 第五章 绝缘子NiS成份检测分析 | 第40-48页 |
| 5.1 Ni S引起自爆的微观机理 | 第40页 |
| 5.2 Ni S成份检测原理 | 第40-45页 |
| 5.3 取样、检测过程 | 第45-46页 |
| 5.4 检测结果 | 第46-47页 |
| 5.5 本章小结 | 第47-48页 |
| 第六章 结论 | 第48-49页 |
| 6.1 本文的主要结论 | 第48页 |
| 6.2 本研究的不足与展望 | 第48-49页 |
| 参考文献 | 第49-50页 |
| 致谢 | 第50-51页 |
| 附表 | 第51页 |
