基于卫星信标的TEC分布和电子密度反演技术研究
| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 符号对照表 | 第12-13页 |
| 缩略语对照表 | 第13-17页 |
| 第一章 绪论 | 第17-25页 |
| 1.1 研究背景 | 第17-19页 |
| 1.1.1 电离层简介 | 第17-19页 |
| 1.1.2 本文研究意义 | 第19页 |
| 1.2 国内外发展现状 | 第19-22页 |
| 1.2.1 基于卫星信标的TEC分布研究 | 第19-20页 |
| 1.2.2 基于TEC的电离层层析成像技术 | 第20-22页 |
| 1.3 论文结构和安排 | 第22-25页 |
| 第二章 电离层探测技术及TEC测量原理 | 第25-41页 |
| 2.1 引言 | 第25页 |
| 2.2 卫星观测系统 | 第25-31页 |
| 2.2.1 COSMIC-Ⅰ | 第25-27页 |
| 2.2.2 COSMIC-Ⅱ | 第27-31页 |
| 2.3 电离层层析成像系统 | 第31-34页 |
| 2.3.1 ITS30S相干接收机 | 第31-32页 |
| 2.3.2 ITS33S相干接收机 | 第32-33页 |
| 2.3.3 ITS33S软件系统简介 | 第33-34页 |
| 2.4 电离层TEC的测量原理 | 第34-39页 |
| 2.4.1 双频信标TEC测量原理 | 第34-36页 |
| 2.4.2 三频信标TEC测量原理 | 第36-37页 |
| 2.4.3 实测数据对比 | 第37-39页 |
| 2.5 本章小结 | 第39-41页 |
| 第三章 绝对TEC的计算方法与精度验证 | 第41-57页 |
| 3.1 引言 | 第41页 |
| 3.2 坐标转换关系 | 第41-45页 |
| 3.2.1 地理坐标与地心坐标的转换 | 第41-43页 |
| 3.2.2 站心坐标与地心坐标的转换关系 | 第43-45页 |
| 3.3 绝对TEC的计算原理 | 第45-49页 |
| 3.3.1 计算电离层穿刺点IPP坐标 | 第45-47页 |
| 3.3.2 双站法与多站法 | 第47-49页 |
| 3.4 平均电离层高度的影响 | 第49-56页 |
| 3.4.1 方法介绍 | 第49-50页 |
| 3.4.2 模拟计算薄层高度对多站法精度的影响 | 第50-54页 |
| 3.4.3 实测数据验证 | 第54-56页 |
| 3.5 本章小结 | 第56-57页 |
| 第四章 基于IRI模型的电离层层析成像 | 第57-75页 |
| 4.1 引言 | 第57页 |
| 4.2 IRI模型程序介绍 | 第57-63页 |
| 4.2.1 输入参数 | 第58-60页 |
| 4.2.2 IRI模型输出 | 第60-61页 |
| 4.2.3 IRI模型计算电离层电子密度 | 第61-63页 |
| 4.3 电离层层析成像技术 | 第63-66页 |
| 4.3.1 电离层层析成像原理 | 第63-64页 |
| 4.3.2 层析方程的建立过程 | 第64-66页 |
| 4.4 迭代重构算法 | 第66-68页 |
| 4.4.1 代数重构算法 | 第66-67页 |
| 4.4.2 乘法代数迭代法 | 第67页 |
| 4.4.3 同步迭代法 | 第67-68页 |
| 4.5 模拟仿真 | 第68-73页 |
| 4.5.1 误差分析 | 第68-72页 |
| 4.5.2 利用LITN数据成像分析 | 第72-73页 |
| 4.6 本章小结 | 第73-75页 |
| 第五章 磁暴事件对高精度TEC二维分布的影响 | 第75-85页 |
| 5.1 引言 | 第75页 |
| 5.2 Kriging插值方法 | 第75-76页 |
| 5.3 TEC的二维分布结果与分析 | 第76-84页 |
| 5.3.1 数据来源 | 第76-77页 |
| 5.3.2 TEC的二维分布与精度验证 | 第77-79页 |
| 5.3.3 实测数据成像结果分析 | 第79-84页 |
| 5.4 本章小结 | 第84-85页 |
| 第六章 总结与展望 | 第85-87页 |
| 参考文献 | 第87-91页 |
| 致谢 | 第91-93页 |
| 作者简介 | 第93-94页 |
