| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第8-15页 |
| 1.1 课题背景 | 第8-9页 |
| 1.2 课题研究的目的和意义 | 第9-10页 |
| 1.3 国内外研究现状分析 | 第10-13页 |
| 1.4 课题的主要研究内容 | 第13-15页 |
| 第2章 微型继电器触点表面污染典型失效案例 | 第15-21页 |
| 2.1 引言 | 第15页 |
| 2.2 电接触失效模式归类 | 第15-16页 |
| 2.3 触点表面污染失效的典型案例 | 第16-20页 |
| 2.3.1 故障分析 | 第16-17页 |
| 2.3.2 存疑分析 | 第17-20页 |
| 2.4 本章小结 | 第20-21页 |
| 第3章 微型继电器触点表面污染失效机理分析 | 第21-43页 |
| 3.1 引言 | 第21页 |
| 3.2 故障树分析 | 第21-27页 |
| 3.2.1 故障树的重列与分析 | 第21-23页 |
| 3.2.2 故障树的底事件分析 | 第23-27页 |
| 3.3 失效机理分析 | 第27-42页 |
| 3.3.1 化学吸附有机膜机理分析 | 第27-33页 |
| 3.3.2 镀金层微孔腐蚀机理分析 | 第33-38页 |
| 3.3.3 静电吸附非金属多余物机理分析 | 第38-42页 |
| 3.4 本章小结 | 第42-43页 |
| 第4章 微型继电器触点表面污染控制技术 | 第43-63页 |
| 4.1 引言 | 第43页 |
| 4.2 高真空烘烤除气技术 | 第43-50页 |
| 4.2.1 工艺参数研究目标 | 第45页 |
| 4.2.2 烘烤温度参数 | 第45-47页 |
| 4.2.3 烘烤时间参数 | 第47-50页 |
| 4.3 高频超声波清洗技术 | 第50-57页 |
| 4.3.1 高频超声波清洗作用机理 | 第50-52页 |
| 4.3.2 高频超声波清洗工艺参数研究 | 第52-57页 |
| 4.4 触点表面污染控制技术 | 第57-62页 |
| 4.4.1 高频超声波清洗技术生产应用 | 第57-59页 |
| 4.4.2 高频超声波清洗对继电器接触可靠性影响研究 | 第59-60页 |
| 4.4.3 高真空烘烤除气技术生产应用 | 第60-62页 |
| 4.5 本章小结 | 第62-63页 |
| 结论 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-68页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第68-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
| 个人简历 | 第71页 |