| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-9页 |
| 缩略语对照表 | 第18-19页 |
| 第1章 绪论 | 第19-31页 |
| 1.1 物联网与RFID技术 | 第19-20页 |
| 1.2 RFID信息安全问题 | 第20-21页 |
| 1.3 关于RFID信息安全问题解决方案的国内外研究现状 | 第21-24页 |
| 1.4 论文选题背景及研究现状 | 第24-27页 |
| 1.5 论文主要研究工作及创新 | 第27-31页 |
| 第2章 结合物性的射频标签设计理论基础 | 第31-51页 |
| 2.1 引言 | 第31页 |
| 2.2 介质电磁参数变化对天线辐射场的影响 | 第31-41页 |
| 2.2.1 在分层介质表面的电偶极子辐射场分布研究概述 | 第31-32页 |
| 2.2.2 置于多层介质表面偶极子的辐射特性 | 第32-39页 |
| 2.2.3 在915MHz上天线辐射场随介质电磁参数变化的变化情况 | 第39-41页 |
| 2.3 物体材质电磁参数变化对不同类型天线的阻抗的影响 | 第41-49页 |
| 2.3.1 偶极子天线结构与输入阻抗间的关系 | 第42-43页 |
| 2.3.2 蜿蜒线型天线结构与输入阻抗间的关系 | 第43-45页 |
| 2.3.3 倒F型天线结构与输入阻抗间的关系 | 第45-47页 |
| 2.3.4 电磁参数变化对上述天线阻抗的影响 | 第47-49页 |
| 2.4 本章小结 | 第49-51页 |
| 第3章 对物性变化敏感的射频标签设计 | 第51-81页 |
| 3.1 引言 | 第51页 |
| 3.2 对物性变化敏感的射频标签设计参数分析 | 第51-55页 |
| 3.3 对附着物体介电常数敏感的标签设计 | 第55-65页 |
| 3.3.1 附着材料形态变化及标签尺寸与标签绑定度间的关系分析 | 第56-59页 |
| 3.3.2 对介电常数敏感的射频标签设计 | 第59-62页 |
| 3.3.3 目标介质外形变化对标签性能的影响 | 第62-65页 |
| 3.4 对附着物体电导率变化敏感的标签设计 | 第65-76页 |
| 3.4.1 标签设计理论 | 第65-69页 |
| 3.4.2 两款标签设计实例 | 第69-76页 |
| 3.5 感应临近金属的射频标签设计 | 第76-78页 |
| 3.6 关于物性感知射频标签设计分类的总结 | 第78-79页 |
| 3.7 本章小结 | 第79-81页 |
| 第4章 高物性绑定特性射频标签设计 | 第81-101页 |
| 4.1 基于碎片结构(fragment-type)的天线形状优化技术 | 第81页 |
| 4.2 引言 | 第81-87页 |
| 4.2.1 碎片型结构(fragment-type)天线概述 | 第81-84页 |
| 4.2.2 结合进化算法的天线形状优化设计概述 | 第84-86页 |
| 4.2.3 基于码元分段的碎片形天线优化设计技术 | 第86-87页 |
| 4.3 对介电常数变化有高绑定性能的射频标签设计 | 第87-92页 |
| 4.4 在标定区有高稳定性能的射频标签设计 | 第92-96页 |
| 4.5 对邻近金属有高感应灵敏度的射频标签设计 | 第96-99页 |
| 4.6 本章小结 | 第99-101页 |
| 第5章 介质物性传感器设计研究 | 第101-123页 |
| 5.1 引言 | 第101-102页 |
| 5.2 基于Q值的介质物性传感器设计理论 | 第102-112页 |
| 5.2.1 天线Q值及其与阻抗,带宽间的关系概述 | 第102-103页 |
| 5.2.2 结合天线Q值的物性传感器设计 | 第103-112页 |
| 5.3 介质物性传感器设计 | 第112-116页 |
| 5.4 兼顾阅读性能与传感性能的介质物性传感器设计 | 第116-120页 |
| 5.5 传感器接入位置对标签传感性能的影响 | 第120-122页 |
| 5.6 本章小结 | 第122-123页 |
| 第6章 物性绑定RFID标签的测试研究 | 第123-141页 |
| 6.1 引言 | 第123页 |
| 6.2 双层介质板模型及其应用 | 第123-128页 |
| 6.2.1 物品包装设计建议 | 第124-125页 |
| 6.2.2 标签衬底设计建议 | 第125-128页 |
| 6.3 测试材料准备 | 第128-133页 |
| 6.3.1 拥有连续变化的介电常数的材料制备 | 第128-131页 |
| 6.3.2 拥有不同电导率的NaCl溶液制备 | 第131-133页 |
| 6.4 物性绑定RFID标签测试 | 第133-140页 |
| 6.4.1 测试系统搭建 | 第133-134页 |
| 6.4.2 对介电常数变化敏感的标签测试 | 第134-138页 |
| 6.4.3 对电导率变化敏感的标签测试 | 第138-139页 |
| 6.4.4 感应临近金属的标签测试 | 第139-140页 |
| 6.5 本章小结 | 第140-141页 |
| 第7章 总结与展望 | 第141-145页 |
| 附录 | 第145-149页 |
| 参考文献 | 第149-159页 |
| 致谢 | 第159-161页 |
| 在读期间发表的学术论文 | 第161页 |
