摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
1 绪论 | 第9-14页 |
1.1 选题背景及研究意义 | 第9-10页 |
1.2 国内外研究现状 | 第10-13页 |
1.2.1 绝缘子污秽程度表征方法的研究现状 | 第10-11页 |
1.2.2 泄漏电流分析方法研究现状 | 第11-12页 |
1.2.3 基于泄漏电流的绝缘子污闪预测研究现状 | 第12-13页 |
1.3 主要研究工作内容 | 第13-14页 |
2 污秽绝缘子沿面放电机理的研究 | 第14-17页 |
2.1 污秽绝缘子沿面放电的发展过程 | 第14-15页 |
2.2 污秽放电模型分析 | 第15-16页 |
2.2.1 静态放电模型 | 第15-16页 |
2.2.2 动态放电模型 | 第16页 |
2.3 小结 | 第16-17页 |
3 试验试品、装置及试验方法 | 第17-20页 |
3.1 试品 | 第17页 |
3.2 试验装置 | 第17-18页 |
3.3 试验方法 | 第18-19页 |
3.3.1 试品染污 | 第18-19页 |
3.3.2 试验过程 | 第19页 |
3.4 小结 | 第19-20页 |
4 污秽绝缘子泄漏电流的时频域特性分析 | 第20-47页 |
4.1 XP-70型瓷绝缘子泄漏电流的特性分析 | 第20-23页 |
4.1.1 泄漏电流幅值与等值附盐密度的关系 | 第20-21页 |
4.1.2 泄漏电流幅值与相对湿度的关系 | 第21-23页 |
4.2 XP-70型瓷绝缘子泄漏电流幅值的定量分析 | 第23-34页 |
4.2.1 基于GA的绝缘子泄漏电流幅值估算 | 第23-28页 |
4.2.2 基于遗传BP神经网络的绝缘子泄漏电流幅值预测 | 第28-34页 |
4.3 FQBSG-25/12-970P型复合绝缘子泄漏电流的时域特性分析 | 第34-39页 |
4.3.1 泄漏电流波形特征分析 | 第34-36页 |
4.3.2 泄漏电流时域特征量分析 | 第36-39页 |
4.4 FQBSG-25/12-970P型复合绝缘子泄漏电流的频域特性分析 | 第39-46页 |
4.4.1 泄漏电流谐波分析 | 第39-42页 |
4.4.2 泄漏电流的功率谱分析 | 第42-46页 |
4.5 小结 | 第46-47页 |
5 基于安全区泄漏电流特性的等值附盐密度预测及污闪预测研究 | 第47-56页 |
5.1 基于SVM的绝缘子等值附盐密度预测 | 第47-50页 |
5.1.1 SVM的理论基础 | 第47-49页 |
5.1.2 SVM预测等值附盐密度的步骤 | 第49页 |
5.1.3 SVM预测等值附盐密度的仿真结果分析 | 第49-50页 |
5.2 基于GRNN的绝缘子污闪预测 | 第50-55页 |
5.2.1 GRNN的网络结构及理论基础 | 第51-53页 |
5.2.2 GRNN污闪预测的算法步骤 | 第53-54页 |
5.2.3 GRNN的绝缘子污闪预测系统的验证 | 第54-55页 |
5.3 小结 | 第55-56页 |
结论 | 第56-58页 |
致谢 | 第58-59页 |
参考文献 | 第59-62页 |
攻读学位期间的研究成果 | 第62页 |