| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 1 绪论 | 第8-16页 |
| 1.1 课题研究背景及意义 | 第8-9页 |
| 1.2 像素边缘检测技术的应用 | 第9-10页 |
| 1.3 边缘检测技术发展历程与研究现状 | 第10-14页 |
| 1.3.1 像素级边缘检测技术 | 第10-11页 |
| 1.3.2 像素边缘检测技术 | 第11-14页 |
| 1.4 本文主要工作与内容安排 | 第14-16页 |
| 2 课题相关背景知识 | 第16-29页 |
| 2.1 图像的去噪 | 第16-18页 |
| 2.1.1 均值滤波器 | 第16页 |
| 2.1.2 中值滤波 | 第16页 |
| 2.1.3 方向平滑滤波器 | 第16-17页 |
| 2.1.4 Kuwahara滤波器 | 第17-18页 |
| 2.2 图像像素级边缘检测 | 第18-22页 |
| 2.2.1 Robert边缘检测算子 | 第18页 |
| 2.2.2 Sobel边缘检测算子 | 第18-19页 |
| 2.2.3 Log边缘检测算子 | 第19-20页 |
| 2.2.4 Canny边缘检测算子 | 第20-21页 |
| 2.2.5 结论 | 第21-22页 |
| 2.3 像素边缘检测 | 第22-29页 |
| 2.3.1 像素边缘检测原理 | 第22页 |
| 2.3.2 基于拟合的亚像素边缘检测算法 | 第22-25页 |
| 2.3.3 基于矩的亚像素边缘检测 | 第25-29页 |
| 3 基于伪Zernike矩的亚像素边缘检测 | 第29-44页 |
| 3.1 伪Zernike矩 | 第29-30页 |
| 3.2 基于伪Zernike矩的边缘检测方法 | 第30-33页 |
| 3.3 边缘的误差补偿 | 第33-35页 |
| 3.4 基于伪Zernike矩的亚像素边缘检测的算法过程 | 第35-36页 |
| 3.5 仿真与分析 | 第36-44页 |
| 3.5.1 去噪滤波器与像素级边缘检测算子的选择 | 第36-38页 |
| 3.5.2 基于伪Zernike矩的亚像素边缘检测实验 | 第38-44页 |
| 4 基于一维灰度矩的亚像素边缘检测 | 第44-57页 |
| 4.1 灰度矩 | 第44-45页 |
| 4.2 基于一维灰度矩的边缘参数的求解 | 第45-48页 |
| 4.3 基于一维灰度矩的亚像素边缘检测的算法过程 | 第48-49页 |
| 4.5 仿真与分析 | 第49-57页 |
| 4.5.1 基于一维灰度矩的亚像素边缘检测实验 | 第50-57页 |
| 结论 | 第57-58页 |
| 参考文献 | 第58-63页 |
| 攻读硕士学位期间发表学术论文情况 | 第63-64页 |
| 致谢 | 第64-65页 |