基于光电检测技术的非接触式横向形变测量系统的研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 1 绪论 | 第8-14页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第8-9页 |
| 1.2 光电检测的特点 | 第9页 |
| 1.3 光电检测技术的发展趋势 | 第9-10页 |
| 1.4 常用于测量横向形变的光电检测方法 | 第10-12页 |
| 1.5 本文研究的内容 | 第12-14页 |
| 2 光电检测系统设计 | 第14-25页 |
| 2.1 引言 | 第14页 |
| 2.2 光电检测理论基础分析 | 第14-24页 |
| 2.2.1 横向应变的概念 | 第14页 |
| 2.2.2 光电转换原理 | 第14-16页 |
| 2.2.3 形变测量方法 | 第16-18页 |
| 2.2.4 光电检测装置与测定系统 | 第18-24页 |
| 2.3 本章小结 | 第24-25页 |
| 3 光电检测电路的设计 | 第25-35页 |
| 3.1 引言 | 第25页 |
| 3.2 光电转换电路特性分析 | 第25-31页 |
| 3.2.1 硅光二级管等效工作电路 | 第25-26页 |
| 3.2.2 硅光二极管线性特性分析 | 第26-28页 |
| 3.2.3 光电检测电路噪声分析 | 第28-31页 |
| 3.3 电路设计原则 | 第31-34页 |
| 3.3.1 运放器件选型及电路设计 | 第31-32页 |
| 3.3.2 电路性能测试 | 第32-33页 |
| 3.3.3 电路性能测试 | 第33-34页 |
| 3.4 本章小结 | 第34-35页 |
| 4 光路优化设计 | 第35-43页 |
| 4.1 引言 | 第35页 |
| 4.2 光纤匀光技术 | 第35-40页 |
| 4.2.1 光纤的基本结构 | 第35-36页 |
| 4.2.2 光纤的传输特性分析 | 第36-38页 |
| 4.2.3 光纤匀光系统设计 | 第38-40页 |
| 4.3 增透膜技术 | 第40-42页 |
| 4.3.1 增透膜工作原理 | 第40-41页 |
| 4.3.2 增透膜的设计 | 第41-42页 |
| 4.3.3 增透效果检验 | 第42页 |
| 4.4 小结 | 第42-43页 |
| 5 横向形变测量实验 | 第43-53页 |
| 5.1 引言 | 第43页 |
| 5.2 系统标定 | 第43-46页 |
| 5.2.1 激光器输出功率的确定 | 第43-44页 |
| 5.2.2 变量标定 | 第44-46页 |
| 5.3 形变测量实验 | 第46-52页 |
| 5.3.1 实验材料 | 第46页 |
| 5.3.2 实验样品的制备 | 第46-49页 |
| 5.3.3 单轴拉伸实验 | 第49-50页 |
| 5.3.4 测量结果分析 | 第50-52页 |
| 5.4 小结 | 第52-53页 |
| 6 结论与展望 | 第53-55页 |
| 6.1 总结 | 第53页 |
| 6.2 本文存在的不足 | 第53-54页 |
| 6.3 进一步研究内容 | 第54-55页 |
| 致谢 | 第55-56页 |
| 参考文献 | 第56-60页 |
| 附录 | 第60页 |
