基于LabVIEW和小波分析的高精度X射线测厚系统实现
| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第9-16页 |
| 1.1 课题背景及研究的目的和意义 | 第9页 |
| 1.2 当前主要测厚系统的种类 | 第9-12页 |
| 1.3 虚拟仪器在测厚系统中的应用 | 第12-14页 |
| 1.4 本文研究的主要任务及结构 | 第14-16页 |
| 1.4.1 本文主要任务 | 第14页 |
| 1.4.2 本文内容结构 | 第14-16页 |
| 第二章 X射线测厚系统分析及硬件设计 | 第16-30页 |
| 2.1 X射线板材测厚工作原理 | 第16-19页 |
| 2.1.1 X射线的本质 | 第16页 |
| 2.1.2 X射线测厚原理 | 第16-19页 |
| 2.2 X射线测厚系统结构组成与总体方案 | 第19-21页 |
| 2.2.1 系统结构组成 | 第19-20页 |
| 2.2.2 总体方案 | 第20-21页 |
| 2.3 X射线发生与接收设计 | 第21-22页 |
| 2.3.1 X射线发生器 | 第21-22页 |
| 2.3.2 X射线接收装置 | 第22页 |
| 2.4 X射线电源设计 | 第22-27页 |
| 2.4.1 X射线电源整体设计 | 第23-24页 |
| 2.4.2 主要电路模块设计 | 第24-27页 |
| 2.5 其他功能性电路设计 | 第27-29页 |
| 2.5.1 辅助电源设计 | 第27-28页 |
| 2.5.2 DSP系统及外围电路 | 第28-29页 |
| 2.5.3 通讯数据收发电路 | 第29页 |
| 2.6 本章小结 | 第29-30页 |
| 第三章 X射线测厚系统的软件实现 | 第30-46页 |
| 3.1 下位机控制程序设计 | 第30-40页 |
| 3.1.1 DSP2812控制程序介绍 | 第30-31页 |
| 3.1.2 程序模块化编程 | 第31-40页 |
| 3.2 基于LabVIEW的上位机软件设计 | 第40-45页 |
| 3.2.1 上位机的总体结构 | 第40页 |
| 3.2.2 模块功能介绍及实现 | 第40-45页 |
| 3.3 本章小结 | 第45-46页 |
| 第四章 基于小波分析的厚度数据处理 | 第46-55页 |
| 4.1 小波变换及多分辨分析 | 第46-49页 |
| 4.1.1 连续小波变换 | 第46-47页 |
| 4.1.2 离散小波变换 | 第47页 |
| 4.1.3 多分辨分析与Mallat算法 | 第47-49页 |
| 4.2 小波去噪原理 | 第49-50页 |
| 4.3 基于小波分析的测厚数据去噪 | 第50-54页 |
| 4.3.1 不同小波函数及分解层数对比 | 第50-52页 |
| 4.3.2 阈值规则的选择 | 第52-54页 |
| 4.4 本章小结 | 第54-55页 |
| 第五章 X射线测厚系统的电磁兼容分析 | 第55-63页 |
| 5.1 电磁兼容相关理论 | 第55-56页 |
| 5.1.1 电磁干扰简述 | 第55页 |
| 5.1.2 电磁干扰的传播路径 | 第55-56页 |
| 5.2 电磁干扰对X射线测厚系统的影响 | 第56页 |
| 5.3 电磁干扰抑制方案 | 第56-62页 |
| 5.3.1 硬件抗干扰设计 | 第57-61页 |
| 5.3.2 软件抗干扰设计 | 第61-62页 |
| 5.4 本章小结 | 第62-63页 |
| 第六章 系统实验结果分析 | 第63-70页 |
| 6.1 X射线系统调试方案 | 第63页 |
| 6.2 电源电路调试与分析 | 第63-67页 |
| 6.2.1 辅助电源模块测试 | 第63-64页 |
| 6.2.2 X射线电源测试 | 第64-67页 |
| 6.3 整机性能测试 | 第67-69页 |
| 6.4 本章小结 | 第69-70页 |
| 第七章 总结及展望 | 第70-72页 |
| 7.1 总结 | 第70-71页 |
| 7.2 展望 | 第71-72页 |
| 参考文献 | 第72-75页 |
| 插图清单 | 第75-77页 |
| 表格清单 | 第77-78页 |
| 致谢 | 第78-79页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第79页 |
