| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-9页 |
| 第一章 绪论 | 第12-37页 |
| 1.1 引言 | 第12页 |
| 1.2 聚合物黏弹性理论及其研究进展 | 第12-20页 |
| 1.2.1 聚合物黏弹性的力学模型理论 | 第12-16页 |
| 1.2.1.1 麦克斯韦（Maxwell）模型 | 第13-14页 |
| 1.2.1.2 沃格特（Voigt）模型 | 第14-15页 |
| 1.2.1.3 四元件模型 | 第15-16页 |
| 1.2.2 聚合物黏弹性的分子理论及研究进展 | 第16-20页 |
| 1.2.2.1“RBZ”理论（珠簧模型） | 第16-18页 |
| 1.2.2.2 蛇行理论 | 第18-19页 |
| 1.2.2.3 聚合物黏弹性的研究进展 | 第19-20页 |
| 1.3 受限聚合物体系黏弹性的研究进展 | 第20-35页 |
| 1.3.1 聚合物超薄膜黏弹性的研究方法 | 第21-27页 |
| 1.3.1.1 去润湿（Dewetting）动力学研究聚合物薄膜的黏弹性 | 第21-23页 |
| 1.3.1.2 纳米鼓泡法（nano-bubble inflation）研究聚合物薄膜黏弹性 | 第23-24页 |
| 1.3.1.3 通过监测纳米图案化薄膜“再流动（reflow）”过程研究聚合物薄膜黏弹性 | 第24-26页 |
| 1.3.1.4 通过表面张力波（capillary wave）研究聚合物薄膜黏弹性 | 第26-27页 |
| 1.3.2 影响聚合物薄膜黏弹性的主要因素 | 第27-32页 |
| 1.3.2.1 高分子的自由表面对薄膜黏弹性的影响 | 第27-29页 |
| 1.3.2.2 聚合物-基底间的界面效应对薄膜黏弹性的影响 | 第29-30页 |
| 1.3.2.3 链受限效应（chain confinement effect）对聚合物薄膜黏弹性的影响 | 第30-32页 |
| 1.3.3 描述聚合物薄膜黏弹性的理论模型 | 第32-35页 |
| 1.4 课题提出 | 第35-37页 |
| 第二章 聚苯乙烯超薄膜黏度与其分子量、基底表面化学的关系研究 | 第37-83页 |
| 2.1 引言 | 第37-38页 |
| 2.2 实验部分 | 第38-42页 |
| 2.2.1 材料与试剂 | 第38-39页 |
| 2.2.2 基底的制备与清洗 | 第39页 |
| 2.2.3 聚苯乙烯薄膜的制备 | 第39页 |
| 2.2.4 PS薄膜厚度的测量 | 第39-40页 |
| 2.2.5 聚合物/基底间不可逆吸附层厚度的测量 | 第40页 |
| 2.2.6 接触角的测定 | 第40页 |
| 2.2.7 润湿脊（wetting ridge）的高度随时间、温度的变化的表征 | 第40-41页 |
| 2.2.8 聚苯乙烯薄膜黏度的测定 | 第41-42页 |
| 2.2.9 聚苯乙烯薄膜黏流温度（Tf）的测定 | 第42页 |
| 2.3 结果与讨论 | 第42-81页 |
| 2.3.1 聚苯乙烯薄膜黏度的厚度依赖性研究 | 第42-56页 |
| 2.3.1.1 Si/SiO_x基底上不同分子量聚苯乙烯薄膜的黏度的厚度依赖性 | 第42-50页 |
| 2.3.1.2 H-Si基底上不同分子量聚苯乙烯薄膜的黏度的厚度依赖性 | 第50-56页 |
| 2.3.2 聚苯乙烯超薄膜黏度的温度依赖性 | 第56-68页 |
| 2.3.2.1 Si/SiO_x基底上不同分子量聚苯乙烯薄膜黏度的温度依赖性 | 第58-64页 |
| 2.3.2.2 H-Si基底上不同分子量聚苯乙烯薄膜黏度的温度依赖性 | 第64-68页 |
| 2.3.3 聚苯乙烯超薄膜黏流温度与膜厚的关系研究 | 第68-78页 |
| 2.3.3.1 PS超薄膜表面wetting ridge的高度-温度曲线 | 第69-74页 |
| 2.3.3.2 Si/SiO_x基底和H-Si基底表面PS超薄膜黏流温度Tf与膜厚的关系 | 第74-78页 |
| 2.3.4 Si/SiO_x和H-Si基底上PS薄膜分子运动的机理探讨 | 第78-81页 |
| 2.4 结论 | 第81-83页 |
| 参考文献 | 第83-95页 |
| 攻读硕士学位期间的成果 | 第95-96页 |
| 致谢 | 第96页 |
