天线反射面近场全息测量关键技术研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-10页 |
| ·天线背景介绍 | 第7-8页 |
| ·天线反射面测量方法 | 第8-9页 |
| ·论文工作内容概述 | 第9-10页 |
| 第二章 近场全息测量技术理论 | 第10-19页 |
| ·基础原理 | 第10-12页 |
| ·反射面测量空间分辨率 | 第12-13页 |
| ·测量信噪比与面形测量精度 | 第13-14页 |
| ·算法残留系统误差 | 第14-17页 |
| ·无截断误差情况下的残留系统误差 | 第14-15页 |
| ·有截断误差情况下的残留系统误差 | 第15-16页 |
| ·抑制截断误差 | 第16-17页 |
| ·多径干涉效应 | 第17-18页 |
| ·小结 | 第18-19页 |
| 第三章 近场全息测量实验系统的实现与硬件测试 | 第19-30页 |
| ·实验系统构成 | 第20-22页 |
| ·反射面天线 | 第20页 |
| ·天线转台 | 第20-21页 |
| ·3mm波段双通道接收机 | 第21页 |
| ·3mm波段发射源 | 第21页 |
| ·控制与数据采集计算机 | 第21-22页 |
| ·系统硬件测试 | 第22-29页 |
| ·接收机噪声测试 | 第22-23页 |
| ·接收机线性范围测量 | 第23-26页 |
| ·接收机稳定性测试 | 第26-29页 |
| ·小结 | 第29-30页 |
| 第四章 近场全息实验测量及数据处理 | 第30-38页 |
| ·软硬件调试阶段 | 第30-32页 |
| ·一维近场方向图扫描： | 第30-31页 |
| ·二维近场方向图扫描： | 第31-32页 |
| ·结论 | 第32页 |
| ·正式测量阶段 | 第32-34页 |
| ·一维方向图调整 | 第33页 |
| ·二维近场方向图扫描： | 第33-34页 |
| ·铝箔贴带测量 | 第34-36页 |
| ·重复性测量 | 第36-37页 |
| ·小结 | 第37-38页 |
| 第五章 误差因素分析 | 第38-48页 |
| ·误差因素影响仿真 | 第38-43页 |
| ·指向误差影响 | 第39-40页 |
| ·系统幅度起伏影响 | 第40-41页 |
| ·系统相位起伏影响 | 第41-42页 |
| ·天线双向扫描回差影响 | 第42-43页 |
| ·从实测近场方向图数据估计误差因素的数值幅度 | 第43-47页 |
| ·指向误差上限 | 第44-45页 |
| ·系统幅度和相位起伏 | 第45-46页 |
| ·天线指向回差（backlash） | 第46-47页 |
| ·结论与讨论 | 第47-48页 |
| 第六章 FPGA数字处理相关器研发 | 第48-54页 |
| ·系统框图设计 | 第48-49页 |
| ·系统实现及测试 | 第49-52页 |
| ·PCIE接口实现 | 第50-51页 |
| ·系统测试 | 第51-52页 |
| ·应用结果 | 第52-53页 |
| ·小结 | 第53-54页 |
| 第七章 总结与展望 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-57页 |
| 个人简历 | 第57-58页 |
| 硕士期间发表的论文和参与的科研项目 | 第58-59页 |
| 致谢 | 第59页 |
