| 致谢 | 第1-5页 |
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-11页 |
| 第1章 引言 | 第11-35页 |
| ·光谱成像技术概述 | 第12-24页 |
| ·光谱成像仪的分类 | 第13-15页 |
| ·光谱成像技术应用 | 第15-18页 |
| ·干涉光谱成像技术的发展与现状 | 第18-24页 |
| ·光谱成像仪的信噪比评估方法 | 第24-27页 |
| ·光谱成像仪信噪比的预估 | 第24-25页 |
| ·光谱成像仪信噪比的测试 | 第25-27页 |
| ·本文的研究目的和意义 | 第27-28页 |
| ·本文的研究内容和结构安排 | 第28-30页 |
| 参考文献 | 第30-35页 |
| 第2章 干涉光谱成像仪信噪比的基本理论 | 第35-47页 |
| ·干涉光谱成像仪的基本原理 | 第35-39页 |
| ·干涉光谱成像仪基本理论 | 第35-36页 |
| ·干涉光谱成像仪的光谱分辨率 | 第36-38页 |
| ·干涉光谱成像仪的采样频率 | 第38-39页 |
| ·干涉光谱成像仪的三种调制方式 | 第39-42页 |
| ·干涉光谱成像仪的信噪比 | 第42-45页 |
| ·干涉图信噪比 | 第43-44页 |
| ·光谱信噪比 | 第44-45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 参考文献 | 第46-47页 |
| 第3章 大孔径静态干涉光谱成像仪信噪比模型研究 | 第47-85页 |
| ·干涉图信噪比理论模型 | 第47-68页 |
| ·仪器入瞳辐亮度计算 | 第48-50页 |
| ·原始干涉图信号的生成 | 第50-57页 |
| ·干涉图信号的采样 | 第57-58页 |
| ·干涉图噪声分析 | 第58-68页 |
| ·系统读出噪声 | 第59-65页 |
| ·光子噪声 | 第65-66页 |
| ·实际干涉图噪声的计算 | 第66-68页 |
| ·光谱信噪比理论模型 | 第68-73页 |
| ·光谱信号的反演 | 第68-70页 |
| ·反演光谱噪声分析 | 第70-73页 |
| ·信噪比计算实例 | 第73-83页 |
| ·计算输入条件 | 第73-75页 |
| ·可见光-近红外波段信噪比计算 | 第75-79页 |
| ·短波红外波段信噪比计算 | 第79-83页 |
| ·本章小结 | 第83-84页 |
| 参考文献 | 第84-85页 |
| 第4章 大孔径静态干涉光谱成像仪信噪比影响环节分析 | 第85-125页 |
| ·干涉仪分束器的影响 | 第85-94页 |
| ·分束器的基本概念 | 第85-87页 |
| ·分光膜吸收特性带来的影响 | 第87-88页 |
| ·分光膜中性特性带来的影响 | 第88-90页 |
| ·分光膜偏振特性带来的影响 | 第90-92页 |
| ·分光膜相位变化特性带来的影响 | 第92-94页 |
| ·探测器环节的影响 | 第94-105页 |
| ·干涉图采样频率的影响 | 第95-97页 |
| ·探测器像元响应的影响 | 第97-105页 |
| ·加工装调环节的影响 | 第105-111页 |
| ·傅氏镜离焦的影响 | 第106-108页 |
| ·相位误差的影响 | 第108-111页 |
| ·数据处理环节的影响 | 第111-122页 |
| ·数据压缩的影响 | 第112-118页 |
| ·图谱数据反演过程的影响 | 第118-122页 |
| ·本章小结 | 第122-123页 |
| 参考文献 | 第123-125页 |
| 第5章 大孔径静态干涉光谱成像仪信噪比测试 | 第125-145页 |
| ·信噪比测试方法 | 第125-134页 |
| ·测试输入条件和数据源 | 第125-127页 |
| ·测试方法和流程 | 第127-134页 |
| ·测试实验的内容 | 第127-128页 |
| ·测试实验的原理及方法 | 第128-130页 |
| ·测试实验平台 | 第130-131页 |
| ·测试实验流程 | 第131-132页 |
| ·测试结果及分析 | 第132-134页 |
| ·实际测试用例及比对分析 | 第134-142页 |
| ·被测系统及测试状态说明 | 第134-135页 |
| ·测试结果比对分析 | 第135-142页 |
| ·本章小结 | 第142-143页 |
| 参考文献 | 第143-145页 |
| 总结与展望 | 第145-149页 |
| 作者简介及在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第149-150页 |