目录 | 第1-7页 |
摘要 | 第7-10页 |
Abstract | 第10-14页 |
第1章 绪论 | 第14-29页 |
·镁及镁合金研究现状 | 第14-17页 |
·镁及镁合金 | 第14页 |
·镁合金的耐蚀性 | 第14-15页 |
·限制镁合金发展的主要因素 | 第15-16页 |
·提高镁合金耐蚀性的方法 | 第16-17页 |
·微弧氧化技术电源模式及能量消耗研究 | 第17-27页 |
·单极性脉冲电源模式下微弧氧化工艺研究 | 第18-20页 |
·双极性脉冲电源模式下微弧氧化工艺研究 | 第20-25页 |
·微弧氧化技术的能量消耗 | 第25-27页 |
·研究目的、主要内容及创新性 | 第27-29页 |
·本论文研究目的及意义 | 第27页 |
·本论文的研究内容 | 第27页 |
·创新性 | 第27-29页 |
第2章 实验材料及方法 | 第29-33页 |
·实验材料及设备 | 第29-30页 |
·实验材料 | 第29页 |
·实验设备 | 第29-30页 |
·实验过程 | 第30-32页 |
·主要分析测试方法 | 第32-33页 |
第3章 AZ91D微弧氧化回归分析及回归方程的建立 | 第33-48页 |
·膜厚的检测 | 第33-34页 |
·耐蚀性分析 | 第34-38页 |
·点滴实验 | 第34-35页 |
·电化学实验 | 第35-38页 |
·能耗分析 | 第38-39页 |
·能耗计算公式 | 第38页 |
·能耗计算结果 | 第38-39页 |
·建立回归方程 | 第39-47页 |
·能耗-电压回归方程的建立 | 第39-43页 |
·时间-电压回归方程的建立 | 第43-47页 |
·本章小结 | 第47-48页 |
第4章 AZ91D微弧氧化电参数与膜层性能的关系探寻 | 第48-89页 |
·回归正交试验设计 | 第48-53页 |
·正交表的建立及星号臂γ的确定 | 第48页 |
·二次项的中心化 | 第48-52页 |
·各电参数上下限的确定 | 第52-53页 |
·膜层性能检测 | 第53-58页 |
·膜厚的检测 | 第53-54页 |
·重厚比计算 | 第54页 |
·点滴实验检测 | 第54-55页 |
·电化学检测 | 第55-56页 |
·能耗计算 | 第56-58页 |
·正交实验数据处理 | 第58-88页 |
·膜厚回归方程的建立 | 第59-63页 |
·能耗回归方程的建立 | 第63-66页 |
·点滴实验变白时间回归方程的建立 | 第66-70页 |
·点滴实验全白时间回归方程的建立 | 第70-73页 |
·线性极化电阻回归方程的建立 | 第73-77页 |
·腐蚀电流回归方程的建立 | 第77-80页 |
·腐蚀电位回归方程的建立 | 第80-84页 |
·重厚比回归方程的建立 | 第84-88页 |
·本章小结 | 第88-89页 |
结论 | 第89-91页 |
参考文献 | 第91-95页 |
致谢 | 第95-96页 |
附录A 攻读学位期间所发表的学术论文目录 | 第96页 |