| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 1 绪论 | 第9-14页 |
| ·研究背景、目的和意义 | 第9-10页 |
| ·国内外研究概况 | 第10-12页 |
| ·本文的主要内容 | 第12-14页 |
| 2 B 超仪的硬件结构分析 | 第14-25页 |
| ·B 超仪的总体结构 | 第14-15页 |
| ·B 超仪的主机结构 | 第15-20页 |
| ·B 超仪控制面板 | 第20-21页 |
| ·B 超仪的显存结构 | 第21-23页 |
| ·本章小结 | 第23-25页 |
| 3 B 超仪纹理特征量化模块的设计与实现 | 第25-47页 |
| ·系统主模块的结构 | 第25-26页 |
| ·扫描按键过程 | 第26-28页 |
| ·纹理特征量化功能的设计与实现 | 第28-46页 |
| ·本章小结 | 第46-47页 |
| 4 B 超仪纹理特征量化功能正确性的验证 | 第47-52页 |
| ·验证特征量化模块计算的正确性 | 第47-48页 |
| ·B 超仪实际测量得到的结果及分析 | 第48-51页 |
| ·本章小结 | 第51-52页 |
| 5 总结与展望 | 第52-54页 |
| ·全文总结 | 第52-53页 |
| ·前景展望 | 第53-54页 |
| 致谢 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-58页 |