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多标签超高频RFID无漏识别技术研究

摘要第1-6页
ABSTRACT第6-11页
第一章 绪论第11-17页
   ·引言第11页
   ·研究背景及意义第11-12页
   ·国内外研究进展第12-15页
     ·国外研究进展第12-14页
     ·国内研究进展第14-15页
   ·主要研究内容及论文结构第15-17页
第二章 UHF RFID 系统无漏识别性能分析第17-33页
   ·UHF RFID 系统结构第17-19页
   ·UHF RFID 系统无漏识别关键性能指标第19-22页
     ·读取范围第19-21页
     ·读取率第21页
     ·系统吞吐率第21-22页
   ·UHF RFID 系统无漏识别性能影响因素第22-32页
     ·ISO/IEC 18000-6C 协议第22-27页
     ·读写器天线第27-28页
     ·读写器第28-29页
     ·标签第29-30页
     ·标签附着物及信道第30页
     ·标签防碰撞算法第30-32页
   ·总结第32-33页
第三章 天线对 UHF RFID 系统无漏识别性能影响研究第33-56页
   ·实验环境第33-38页
     ·硬件环境第33-35页
     ·软件环境第35-38页
   ·单天线应用分析及实验第38-45页
     ·单天线配置位置分析第38-40页
     ·天线通信频率第40-42页
     ·读写器天线功率控制及实验第42页
     ·单天线应用实验第42-44页
     ·单天线实验小结第44-45页
   ·多天线应用及实验第45-55页
     ·多天线位置分析第46-47页
     ·多天线应用分析第47-50页
     ·多天线应用实验第50-51页
     ·多天线权重分析机制第51-52页
     ·多天线权重分配实验第52-55页
     ·多天线应用小结第55页
   ·总结第55-56页
第四章 大量标签无漏识别算法研究第56-79页
   ·标签数量对系统性能影响分析第56-63页
     ·系统变量的引入第56-57页
     ·标签数量影响分析第57-63页
   ·标签数量对系统性能影响实验第63-67页
     ·实验环境第63-64页
     ·实验设计第64页
     ·数据分析第64-65页
     ·实验总结第65-67页
   ·大量标签无漏识别算法第67-72页
     ·基于分组的无漏识别算法第67-69页
     ·基于分组的无漏识别算法实验环境第69页
     ·基于分组的无漏识别算法实验设计第69-70页
     ·基于分组的无漏识别算法实验数据分析第70-72页
     ·实验总结第72页
   ·有关改善大量标签读取率的其他方案第72-77页
     ·差错检测技术的应用第72-74页
     ·多标签的应用第74-75页
     ·多观测点应用第75-76页
     ·阵列天线波束扫描的应用第76-77页
   ·总结第77-79页
第五章 结论与展望第79-80页
致谢第80-81页
参考文献第81-85页
攻读硕士学位期间的研究成果第85-86页

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