| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-17页 |
| ·课题研究的目的与意义 | 第10页 |
| ·绝缘子劣化检测的研究现状 | 第10-16页 |
| ·绝缘子劣化的成因 | 第10-11页 |
| ·劣化绝缘子检测方法 | 第11-16页 |
| ·本文研究的主要内容 | 第16页 |
| ·本章小结 | 第16-17页 |
| 第2章 试验设备与方法 | 第17-22页 |
| ·试验设备与接线图 | 第17-18页 |
| ·人工模拟劣化绝缘子 | 第18-19页 |
| ·试验方法与内容 | 第19-21页 |
| ·本章小结 | 第21-22页 |
| 第3章 电压分布测量法的研究 | 第22-35页 |
| ·绝缘子串电压分布的计算原理 | 第22-23页 |
| ·有无劣化绝缘子时绝缘子串的电压分布计算 | 第23-26页 |
| ·试验结果及其分析 | 第26-34页 |
| ·正常绝缘子串的电压分布 | 第26-27页 |
| ·劣化绝缘子位置对电压分布测量法的影响 | 第27-29页 |
| ·不同污秽度对电压分布测量法的影响 | 第29-33页 |
| ·不同类型绝缘子对电压分布测量法的影响 | 第33-34页 |
| ·本章小结 | 第34-35页 |
| 第4章 电场分布测量法的研究 | 第35-45页 |
| ·理论仿真分析 | 第35-38页 |
| ·仿真模型及其参数 | 第35-36页 |
| ·良好绝缘子串的电场分布情况 | 第36-37页 |
| ·含有一片劣化绝缘子的电场分布情况 | 第37-38页 |
| ·试验结果及其分析 | 第38-44页 |
| ·绝缘子串周围轴向电场试验结果 | 第38-41页 |
| ·劣化绝缘子对轴向电场变化率的影响分析 | 第41-43页 |
| ·绝缘子类型对电场分布测量法的影响 | 第43页 |
| ·污秽对电场分布测量法的影响 | 第43-44页 |
| ·本章小结 | 第44-45页 |
| 第5章 红外成像法检测劣化绝缘子的研究 | 第45-70页 |
| ·红外成像法检测试验结果及分析 | 第45-51页 |
| ·XP-160 型含有一片劣化绝缘子的检测结果及分析 | 第45-49页 |
| ·XWP-160 型含有一片劣化绝缘子的检测结果及分析 | 第49-51页 |
| ·劣化绝缘子串的温度分布特性的分析 | 第51-54页 |
| ·绝缘子串中绝缘子发热的理论分析 | 第54-56页 |
| ·红外成像法现场试验的研究 | 第56-62页 |
| ·红外成像法检测劣化绝缘子的影响因素分析 | 第62-66页 |
| ·检测方法比较与分析 | 第66-68页 |
| ·综合检测法 | 第68-69页 |
| ·本章小结 | 第69-70页 |
| 第6章 结论与展望 | 第70-72页 |
| 参考文献 | 第72-75页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文及其它成果 | 第75-76页 |
| 致谢 | 第76-77页 |
| 作者简介 | 第77页 |