| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-16页 |
| ·全球光伏行业背景 | 第9-12页 |
| ·太阳电池检测技术的发展现状 | 第12-15页 |
| ·本文的主要工作 | 第15-16页 |
| 第二章 太阳电池工作原理 | 第16-28页 |
| ·太阳电池工作原理 | 第16-18页 |
| ·半导体中光吸收 | 第16-17页 |
| ·PN 结的光生伏打效应 | 第17-18页 |
| ·太阳电池的基本结构 | 第18页 |
| ·太阳电池基本特性 | 第18-21页 |
| ·短路电流 | 第18-19页 |
| ·开路电压 | 第19页 |
| ·串联电阻，暗电流 | 第19页 |
| ·等效电路 | 第19-20页 |
| ·I-V 曲线 | 第20-21页 |
| ·转换效率，填充因子 | 第21页 |
| ·影响太阳电池效率的因素 | 第21-25页 |
| ·光谱 | 第21-22页 |
| ·光强 | 第22-23页 |
| ·金属栅线 | 第23页 |
| ·表面反射 | 第23页 |
| ·温度 | 第23页 |
| ·串联电阻 | 第23-24页 |
| ·禁带宽度 | 第24页 |
| ·有效少数载流子寿命 | 第24页 |
| ·表面复合速率 | 第24页 |
| ·最大功率点 | 第24页 |
| ·缺陷 | 第24-25页 |
| ·太阳电池的缺陷类型 | 第25-27页 |
| ·硅材料缺陷 | 第25-26页 |
| ·电池片的断栅 | 第26页 |
| ·花片 | 第26页 |
| ·污染 | 第26-27页 |
| ·裂片 | 第27页 |
| ·隐裂 | 第27页 |
| ·本章小结 | 第27-28页 |
| 第三章 太阳电池检测技术 | 第28-37页 |
| ·外观测试 | 第28-29页 |
| ·太阳电池外观检验 | 第28页 |
| ·太阳电池组件外观检验 | 第28-29页 |
| ·电性能测试 | 第29页 |
| ·少数载流子寿命测试 | 第29-31页 |
| ·光致发光测试 | 第31-35页 |
| ·光致发光基本概念 | 第32-33页 |
| ·光致发光光谱测试 | 第33页 |
| ·光致发光少子寿命测试 | 第33-35页 |
| ·电致发光测试 | 第35-36页 |
| ·本章小结 | 第36-37页 |
| 第四章 基于发光成像的太阳电池检测实验 | 第37-44页 |
| ·太阳电池片电致发光成像实验 | 第37-38页 |
| ·实验器材 | 第37-38页 |
| ·实验结果 | 第38页 |
| ·基于 InGaAs 红外相机的多晶太阳电池片电致发光实验 | 第38-41页 |
| ·实验器材 | 第38-40页 |
| ·实验结果 | 第40-41页 |
| ·太阳电池组件电致发光实验 | 第41-43页 |
| ·实验器材 | 第41-43页 |
| ·实验结果 | 第43页 |
| ·本章小结 | 第43-44页 |
| 第五章 基于发光图像的太阳电池缺陷自动识别算法 | 第44-69页 |
| ·数字图像处理概述 | 第44-46页 |
| ·基于局域阈值分割的太阳能电池组件缺陷检测 | 第46-58页 |
| ·识别算法 | 第47-53页 |
| ·处理结果和讨论 | 第53-58页 |
| ·小结 | 第58页 |
| ·基于阈值均匀局部二值模式和 BP 神经网络的缺陷检测算法 | 第58-68页 |
| ·阈值均匀局部二值模式 | 第58-61页 |
| ·基于 BP 神经网络的检测算法 | 第61-64页 |
| ·实验结果和分析 | 第64-68页 |
| ·小结 | 第68页 |
| ·本章小结 | 第68-69页 |
| 第六章 全文总结与展望 | 第69-71页 |
| ·本文的主要结论和创新点 | 第69页 |
| ·下一步的工作展望 | 第69-71页 |
| 参考文献 | 第71-74页 |
| 硕士期间已发表或已录用的论文 | 第74-75页 |
| 致谢 | 第75页 |