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基于ATmega16L的PTCR耐电压测试仪

摘要第1-5页
Abstract第5-9页
1 绪论第9-13页
   ·PTCR 的定义与耐电压测试的原理第9-10页
   ·耐电压测试仪的发展现状第10-11页
   ·耐电压测试的设计思想及主要研究内容第11-13页
2 耐电压测试仪的硬件电路设计第13-27页
   ·耐电压测试电路原理图第13-14页
   ·单片机系统框图与选型第14-16页
   ·高低压切换电路第16-17页
   ·顺序加压控制电路第17-19页
   ·显示电路第19-23页
   ·外部按键第23-24页
   ·JTAG 与ISP 接口第24-27页
3 耐电压测试仪的软件设计第27-54页
   ·系统软件的总体框架第27-29页
   ·单片机系统的初始化第29-39页
   ·EEPROM 程序的设计第39-42页
   ·LED 动态扫描程序设计第42-44页
   ·LCD 显示程序设计第44-45页
   ·按键程序设计第45-48页
   ·工位继电器顺序导通程序设计第48-49页
   ·加压计时与报警程序设计第49-50页
   ·程序的仿真、调试及下载第50-54页
4 系统运行及常见问题的分析第54-60页
   ·系统的运行第54-58页
   ·常见问题的分析第58-60页
5 全文总结第60-62页
致谢第62-63页
参考文献第63-65页

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