基于ATmega16L的PTCR耐电压测试仪
摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-9页 |
1 绪论 | 第9-13页 |
·PTCR 的定义与耐电压测试的原理 | 第9-10页 |
·耐电压测试仪的发展现状 | 第10-11页 |
·耐电压测试的设计思想及主要研究内容 | 第11-13页 |
2 耐电压测试仪的硬件电路设计 | 第13-27页 |
·耐电压测试电路原理图 | 第13-14页 |
·单片机系统框图与选型 | 第14-16页 |
·高低压切换电路 | 第16-17页 |
·顺序加压控制电路 | 第17-19页 |
·显示电路 | 第19-23页 |
·外部按键 | 第23-24页 |
·JTAG 与ISP 接口 | 第24-27页 |
3 耐电压测试仪的软件设计 | 第27-54页 |
·系统软件的总体框架 | 第27-29页 |
·单片机系统的初始化 | 第29-39页 |
·EEPROM 程序的设计 | 第39-42页 |
·LED 动态扫描程序设计 | 第42-44页 |
·LCD 显示程序设计 | 第44-45页 |
·按键程序设计 | 第45-48页 |
·工位继电器顺序导通程序设计 | 第48-49页 |
·加压计时与报警程序设计 | 第49-50页 |
·程序的仿真、调试及下载 | 第50-54页 |
4 系统运行及常见问题的分析 | 第54-60页 |
·系统的运行 | 第54-58页 |
·常见问题的分析 | 第58-60页 |
5 全文总结 | 第60-62页 |
致谢 | 第62-63页 |
参考文献 | 第63-65页 |