基于能量最低原理的超声波束合成研究
摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-5页 |
目录 | 第5-7页 |
第1章 引言 | 第7-14页 |
·声波测量的研究背景及意义 | 第7-8页 |
·相控阵检测技术的研究现状和发展趋势 | 第8-11页 |
·相控检测技术的研究现状 | 第8-9页 |
·超声相控技术的优势 | 第9-10页 |
·超声相控技术的发展趋势 | 第10-11页 |
·课题的研究意义及内容安排 | 第11-12页 |
·本章小结 | 第12-14页 |
第2章 超声测量的理论知识 | 第14-26页 |
·超声场的基本物理量 | 第14-15页 |
·声压 | 第14页 |
·声强 | 第14-15页 |
·声阻抗 | 第15页 |
·声衰减系数 | 第15页 |
·声波在介质中传播时具有的特性 | 第15-19页 |
·平面声波垂直入射时的声学特性 | 第15-17页 |
·影响声波垂直入射的因素 | 第17-19页 |
·平面声波斜入射时的声学现象 | 第19-25页 |
·平面声波斜入射时的声学特性 | 第19-23页 |
·影响声波斜入射的因素 | 第23-25页 |
·本章小结 | 第25-26页 |
第3章 相控阵测量原理及聚焦时间的研究 | 第26-38页 |
·相控阵测量原理及组成部分 | 第26-28页 |
·相控阵测量的原理 | 第26-27页 |
·相控阵的组成部分 | 第27-28页 |
·相控阵测量的关键技术 | 第28-29页 |
·相控阵的聚焦延迟时间 | 第29-30页 |
·单层介质中相控技术的使用及阵元聚焦时间的研究 | 第30-33页 |
·单层介质中相控技术的使用 | 第30-31页 |
·单层介质中聚焦延迟时间的计算 | 第31-33页 |
·两层介质中相控技术的使用及聚焦时间的研究 | 第33-36页 |
·相控技术在两层介质中的运用 | 第33页 |
·两层介质中相控阵的检测原理 | 第33-34页 |
·两层介质中测量时的物理模型 | 第34-35页 |
·两层介质中聚焦时间的算法 | 第35-36页 |
·本章小结 | 第36-38页 |
第4章 聚焦时间的算法与界面的编写 | 第38-54页 |
·两种有关相控阵聚焦时间的算法 | 第38-44页 |
·利用斯奈尔声波定理求解聚焦延迟时间 | 第38-41页 |
·费马定理求解阵元的聚焦延迟时间 | 第41-44页 |
·聚焦时间的具体求解 | 第44-46页 |
·声波路程的求解 | 第44-46页 |
·聚焦延迟时间的求解 | 第46页 |
·基于延迟时间的界面的编写与设计 | 第46-53页 |
·软件编程的意义 | 第46-47页 |
·软件编写的功能和内容 | 第47-48页 |
·界面的设计 | 第48-51页 |
·软件流程图的设计 | 第51-53页 |
·本章小结 | 第53-54页 |
第5章 总结和展望 | 第54-55页 |
参考文献 | 第55-58页 |
致谢 | 第58页 |