基于贝叶斯理论的电容层析成像算法研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-14页 |
| ·ECT概述 | 第9-10页 |
| ·电容层析成像算法研究进展 | 第10-12页 |
| ·本文的主要结构和工作 | 第12-13页 |
| ·本文的创新点 | 第13-14页 |
| 第2章 ECT系统及其工作原理 | 第14-31页 |
| ·ECT成像系统结构和测量原理 | 第14页 |
| ·ECT数学模型 | 第14-17页 |
| ·ECT正问题 | 第17-26页 |
| ·正问题求解方法 | 第17-18页 |
| ·有限元法 | 第18-26页 |
| ·ECT逆问题 | 第26-30页 |
| ·ECT基本方程 | 第26-27页 |
| ·灵敏度系数矩阵的建立 | 第27-28页 |
| ·ECT反问题的不适定性 | 第28-29页 |
| ·图像重建算法 | 第29页 |
| ·线性反投影(LBP)算法 | 第29-30页 |
| ·本章小结 | 第30-31页 |
| 第3章 贝叶斯理论和ECT反问题 | 第31-36页 |
| ·贝叶斯理论 | 第31-34页 |
| ·贝叶斯定理 | 第31-32页 |
| ·先验信息的选择 | 第32-33页 |
| ·似然函数的选择 | 第33-34页 |
| ·后验概率密度函数的抽样方法 | 第34页 |
| ·ECT后验分布模型 | 第34-35页 |
| ·本章小结 | 第35-36页 |
| 第4章 M-H抽样在ECT图像重建中的应用 | 第36-46页 |
| ·MCMC统计抽样 | 第36-38页 |
| ·Monte Carlo概述 | 第36-37页 |
| ·舍选法抽样 | 第37页 |
| ·重要性抽样 | 第37-38页 |
| ·Monte Carlo算法过程 | 第38页 |
| ·M-H抽样 | 第38-41页 |
| ·M-H抽样的基本原理 | 第38-39页 |
| ·M-H抽样的过程 | 第39-40页 |
| ·M-H抽样的数值例子及结果分析 | 第40-41页 |
| ·基于M-H抽样的ECT图像重建 | 第41-46页 |
| ·介电常数边际分布 | 第41-42页 |
| ·Metropolis-Hastings抽样 | 第42-43页 |
| ·样本的获取与处理 | 第43页 |
| ·仿真结果对比分析取LBP投影结果为初状态 | 第43-46页 |
| 第5章 本文的主要工作与展望 | 第46-48页 |
| ·主要工作与结论分析 | 第46页 |
| ·展望 | 第46-48页 |
| 参考文献 | 第48-52页 |
| 致谢 | 第52页 |
