相衬成像一阶相移信息提取方法的研究
摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-11页 |
第1章 引言 | 第11-19页 |
·X 射线相衬成像技术的发展历程与分类 | 第11-15页 |
·X 射线与物质的相互作用 | 第15-17页 |
·一阶相移信息与折射角之间的关系 | 第17-18页 |
·研究内容及方法 | 第18-19页 |
第2章 衍射增强成像一阶相移信息提取方法的研究 | 第19-36页 |
·衍射增强成像原理 | 第19-21页 |
·基本原理及光路模型 | 第19-20页 |
·分析晶体的作用 | 第20-21页 |
·现有的衍射增强成像一阶相移信息提取方法 | 第21-24页 |
·几何光学近似方法 | 第22页 |
·多图统计方法 | 第22-23页 |
·高斯曲线拟合方法 | 第23-24页 |
·非线性信息提取方法的研究 | 第24-28页 |
·基本原理 | 第24页 |
·高斯函数表征摇摆曲线的GEDEI 提取方法 | 第24-26页 |
·实验验证 | 第26-28页 |
·多项式拟合提取方法的研究 | 第28-36页 |
·基本原理 | 第28-30页 |
·实验验证与性能比较 | 第30-34页 |
·讨论与总结 | 第34-36页 |
第3章 光栅相衬成像一阶相移信息提取方法的研究 | 第36-62页 |
·传统光栅相衬成像技术 | 第36-41页 |
·基本原理 | 第36-38页 |
·传统的光栅相衬信息提取方法 | 第38-41页 |
·基于莫尔偏折方法的光栅相衬成像系统的介绍 | 第41-46页 |
·基本原理与系统组成 | 第41-44页 |
·相位步进测量法的求解思路 | 第44-46页 |
·基于曲线拟合法的一阶相移信息提取方法研究 | 第46-52页 |
·基于正弦曲线拟合法的提取方法研究 | 第46-47页 |
·基于多项式曲线拟合法的提取方法研究 | 第47-50页 |
·实验验证 | 第50-52页 |
·条纹扫描方法的应用 | 第52-53页 |
·比较几种方法的性能 | 第53-60页 |
·实验一 | 第54-56页 |
·实验二 | 第56-58页 |
·其他实验结果 | 第58-60页 |
·讨论与总结 | 第60-62页 |
第4章 结论与展望 | 第62-64页 |
·研究结论与成果 | 第62-63页 |
·局限性与展望 | 第63-64页 |
参考文献 | 第64-72页 |
致谢 | 第72-73页 |
个人简历、在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第73页 |