双掺杂铌酸锂晶体中双色复用存储技术研究
摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-10页 |
第1章 绪论 | 第10-16页 |
·课题背景 | 第10-11页 |
·双色存储技术的研究现状 | 第11-14页 |
·双色存储材料及相应存储条件的研究现状 | 第12-13页 |
·双色存储理论的研究进展 | 第13-14页 |
·双色复用存储的研究现状 | 第14页 |
·课题来源及本论文的研究内容 | 第14-16页 |
第2章 双色体全息存储的基本理论 | 第16-32页 |
·体全息存储的基本原理 | 第16-23页 |
·光折变效应及折射率光栅的建立 | 第16-17页 |
·体全息光栅的记录和读出 | 第17-19页 |
·体全息光栅的衍射效率及选择性 | 第19-21页 |
·体全息的复用存储技术 | 第21-22页 |
·傅里叶变换全息图 | 第22-23页 |
·光折变晶体中的双色体全息存储技术 | 第23-29页 |
·双色体全息存储的机理 | 第23-24页 |
·双色体全息存储的性能 | 第24-27页 |
·影响双色存储效果的因素 | 第27-28页 |
·双色体全息存储的技术方案 | 第28-29页 |
·光折变晶体中的全息时间常数特点 | 第29-31页 |
·本章小结 | 第31-32页 |
第3章 双色复用存储的等衍射效率曝光方法 | 第32-44页 |
·双色全息复用存储系统 | 第32-34页 |
·实验光路 | 第32-33页 |
·实验设备 | 第33页 |
·实验过程 | 第33-34页 |
·双色体全息存储实验条件的优化 | 第34-36页 |
·晶体掺杂种类对全息性能的影响 | 第34-35页 |
·晶体氧化程度对全息性能的影响 | 第35-36页 |
·双色复用存储直接记录方案的曝光方法 | 第36-41页 |
·选择角特性 | 第36-37页 |
·未敏化晶体等时曝光实验 | 第37-38页 |
·双色全息存储的双指数擦除特性 | 第38页 |
·设计等衍射效率曝光的时序 | 第38-39页 |
·50 幅全息光栅的双色复用记录及固定读出 | 第39-41页 |
·双色复用存储预曝光记录方案的曝光方法 | 第41-43页 |
·敏化后的晶体双色复用记录时的曝光特性 | 第41页 |
·敏化后的晶体等时曝光实验 | 第41-43页 |
·本章小结 | 第43-44页 |
第4章 全息图像的双色复用存储 | 第44-52页 |
·全息图像的双色存储系统 | 第44-45页 |
·体全息存储的图像质量 | 第45-46页 |
·噪声源 | 第45-46页 |
·二值图像的信噪比 | 第46页 |
·双色全息图像存储的噪声特点 | 第46-48页 |
·晶体的噪声 | 第46-47页 |
·紫外光对散射噪声的贡献 | 第47页 |
·物光对散射噪声的贡献 | 第47-48页 |
·全息图像的双色复用存储 | 第48-51页 |
·全息图像双色复用存储的曝光时序 | 第48-49页 |
·50 幅全息图像的双色复用存储 | 第49-51页 |
·本章小结 | 第51-52页 |
结论 | 第52-54页 |
参考文献 | 第54-58页 |
攻读硕士学位期间参加的科研项目和发表的文章 | 第58-59页 |
致谢 | 第59页 |