闪存的低温下低工作电压Vcc读取失效分析

中文摘要	第1-4页
Abstract	第4-7页
第一章 引言	第7-9页
·课题的背景与意义	第7-8页
·论文各部分的主要内容	第8-9页
第二章 器件的结构与测试原理	第9-18页
·存储器种类简介	第9页
·闪存器件的结构	第9-11页
·器件的工作原理	第11-12页
·器件的测试原理	第12-17页
·存储器术语的定义	第12-13页
·存储器芯片所需的功能测试	第13页
·存储器测试向量	第13-16页
·测试资源的消耗值	第16-17页
·本章小结	第17-18页
第三章 器件失效的分析	第18-29页
·器件失效的数据收集	第18-20页
·器件失效的现象介绍	第18-19页
·器件失效的统计数据	第19-20页
·失效器件的数据分析、讨论	第20-24页
·QA 测试分析	第21页
·芯片表面分析	第21-22页
·器件参数分析	第22-24页
·器件速度与温度的分析	第24页
·失效的机理分析	第24-27页
·本章小结	第27-29页
第四章 改进方案的讨论与实施	第29-35页
·失效的预防方案	第29-32页
·器件读取的原理	第29-30页
·EQ 与内部脉冲信号的关系	第30-31页
·器件工作电压与内部脉冲的关系	第31-32页
·改进方案的实施	第32-34页
·本章小结	第34-35页
第五章 结论	第35-36页
参考文献	第36-37页
硕士期间发表的论文	第37-38页
附录1. EQ 的调整程序	第38-43页
附录2. EQ 的扫描程序	第43-46页
附录3. EQ 的使用程序	第46-47页
致谢	第47页