| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-12页 |
| ·自动测试技术 | 第7-9页 |
| ·自动测试系统组成 | 第7页 |
| ·自动测试系统特点 | 第7-8页 |
| ·自动测试技术的发展 | 第8-9页 |
| ·我军 ATS 的现状与面临的问题 | 第9页 |
| ·课题研究背景及意义 | 第9-10页 |
| ·课题研究的主要内容及技术难点 | 第10-11页 |
| ·论文章节内容安排 | 第11-12页 |
| 第二章 测试系统总体方案 | 第12-24页 |
| ·测试系统技术指标及测量方法 | 第12-15页 |
| ·测试需求分析 | 第12页 |
| ·测试系统技术指标要求 | 第12-13页 |
| ·测试方法设计 | 第13-15页 |
| ·测试系统总体方案 | 第15-21页 |
| ·硬件总体方案 | 第15-17页 |
| ·软件总体方案 | 第17-20页 |
| ·测试系统抗干扰设计 | 第20-21页 |
| ·仪器模块选型 | 第21-23页 |
| ·本章小结 | 第23-24页 |
| 第三章 测试系统的实现 | 第24-40页 |
| ·测试系统硬件设计 | 第24-31页 |
| ·系统控制和仪器子系统设计 | 第24-28页 |
| ·开关矩阵子系统设计 | 第28-29页 |
| ·接收器／定位器子系统设计 | 第29-30页 |
| ·系统自检设计 | 第30-31页 |
| ·测试系统软件设计 | 第31-34页 |
| ·模拟前端性能测试程序流程 | 第31-32页 |
| ·光隔输入输出测试程序流程 | 第32页 |
| ·TM5320C6201 外围电路测试程序流程 | 第32-33页 |
| ·TM5320C6201 程序流程 | 第33页 |
| ·ADSP2187 程序流程 | 第33-34页 |
| ·单片机程序流程 | 第34页 |
| ·基本测试功能模块的实现 | 第34-39页 |
| ·静态阻抗测试模块 | 第34-35页 |
| ·信号源控制 | 第35-36页 |
| ·测试数据读取 | 第36-37页 |
| ·原始数据保存 | 第37-38页 |
| ·计算机对TM5320C6201 的程序引导及数据交换 | 第38-39页 |
| ·本章小结 | 第39-40页 |
| 第四章 测试数据库 | 第40-47页 |
| ·LabVIEW 与数据库访问 | 第40-41页 |
| ·测试数据处理流程 | 第41-42页 |
| ·测试数据处理 | 第42-45页 |
| ·测试数据自动存储 | 第42-43页 |
| ·数据显示、查询、修改及删除 | 第43-44页 |
| ·数据打印输出 | 第44-45页 |
| ·本章小结 | 第45-47页 |
| 第五章 测试数据处理及误差分析 | 第47-52页 |
| ·测试数据处理 | 第47-50页 |
| ·模拟前端测试 | 第47-49页 |
| ·光隔输入输出量测试 | 第49-50页 |
| ·主要误差来源及解决办法 | 第50-51页 |
| ·本章小结 | 第51-52页 |
| 第六章 结束语 | 第52-54页 |
| ·测试系统总结 | 第52-53页 |
| ·自动测试系统的发展趋势 | 第53-54页 |
| 致谢 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-57页 |
| 附录A：PCI-9118HR 卡ADC 通道隔离度验证测试数据记录 | 第57-58页 |
| 附录B：PCI-9118HR 卡ADC 通道一致性验证测试数据记录 | 第58-59页 |
| 附录C：测试记录卡 | 第59页 |
