VXI雷达自动测试系统的研究与实现
| 第一章 绪论 | 第1-13页 |
| 1．1 自动测试系统发展现状 | 第9-11页 |
| 1．2 雷达BIT技术 | 第11-12页 |
| 1．3 雷达ATS技术 | 第12-13页 |
| 第二章 雷达技术指标测试方法研究 | 第13-33页 |
| 2．1 发射分系统 | 第14-20页 |
| 2．1．1 脉冲功率 | 第15-18页 |
| 2．1．1．1 平均功率测试法 | 第16-17页 |
| 2．1．1．2 峰值功率测试法 | 第17-18页 |
| 2．1．2 发射频率 | 第18页 |
| 2．1．3 脉冲重复频率 | 第18-19页 |
| 2．1．4 脉冲包络特性 | 第19页 |
| 2．1．5 工作带宽 | 第19-20页 |
| 2．1．6 发射频谱特性 | 第20页 |
| 2．1．7 改善因子 | 第20页 |
| 2．2 接收分系统 | 第20-27页 |
| 2．2．1 动态范围 | 第22-23页 |
| 2．2．2 镜像频率抑制度 | 第23-24页 |
| 2．2．3 工作带宽及中心频率 | 第24-25页 |
| 2．2．4 噪声系数 | 第25-26页 |
| 2．2．5 增益 | 第26-27页 |
| 2．3 信号处理分系统 | 第27-28页 |
| 2．4 馈线分系统 | 第28-33页 |
| 2．4．1 电压驻波比 | 第28-29页 |
| 2．4．2 损耗 | 第29-30页 |
| 2．4．3 额定功率 | 第30-31页 |
| 2．4．4 接收机端漏过功率 | 第31-33页 |
| 第三章 雷达自动测试系统组建与实现 | 第33-49页 |
| 3．1 测试需求 | 第33-34页 |
| 3．2 选择软件开发环境 | 第34-36页 |
| 3．2．1 选择操作系统 | 第34页 |
| 3．2．2 选择应用程序开发平台 | 第34-36页 |
| 3．3 选择仪器总线类型和仪器设备 | 第36-39页 |
| 3．3．1 选择仪器总线 | 第36-37页 |
| 3．3．2 选择控制器和仪器 | 第37-38页 |
| 3．3．3 选择主机箱 | 第38-39页 |
| 3．4 设计测试程序集 | 第39-43页 |
| 3．5 系统组建过程中的几个关键问题 | 第43-49页 |
| 3．5．1 测试接口适配器设计 | 第43-44页 |
| 3．5．2 雷达本振码控制 | 第44页 |
| 3．5．3 待测指标集关联关系推理 | 第44-45页 |
| 3．5．4 测试报告打印实现 | 第45-47页 |
| 3．5．5 模块化的结构设计和调试 | 第47页 |
| 3．5．6 系统的可靠性 | 第47-49页 |
| 第四章 结束语 | 第49-50页 |
| 参考文献 | 第50-52页 |
| 致谢 | 第52-53页 |
| 个人简历、在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第53页 |
