无源超高频电子标签芯片设计研究
| 中文摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-18页 |
| ·前言 | 第8-9页 |
| ·RFID 技术的历史、现状与发展前景 | 第9-14页 |
| ·RFID 技术发展面临的挑战 | 第14-15页 |
| ·课题的选题意义、内容及主要创新点 | 第15-18页 |
| ·选题的意义 | 第15页 |
| ·本文的内容安排 | 第15-16页 |
| ·主要创新点 | 第16-18页 |
| 第二章 RFID 技术的基本原理 | 第18-40页 |
| ·RFID 系统的组成 | 第18-20页 |
| ·标签 | 第18-19页 |
| ·阅读器 | 第19-20页 |
| ·客户机、服务器与通信网络 | 第20页 |
| ·UHF RFID 系统基本工作原理 | 第20-33页 |
| ·电磁场基本原理和天线辐射理论 | 第20-23页 |
| ·数据传输原理 | 第23-26页 |
| ·数据传输的方式 | 第26-29页 |
| ·防碰撞算法分析 | 第29-33页 |
| ·UHF RFID 系统标准分析 | 第33-39页 |
| ·国际标准分析 | 第33-37页 |
| ·国内标准分析 | 第37-38页 |
| ·ISO/IEC 18000-6 标准比较 | 第38-39页 |
| ·本章小结 | 第39-40页 |
| 第三章 UHF RFID 标签芯片系统架构设计 | 第40-56页 |
| ·UHF RFID 标签芯片的系统架构 | 第40-50页 |
| ·标签天线的设计 | 第41-49页 |
| ·射频模拟前端电路设计 | 第49-50页 |
| ·控制逻辑电路设计 | 第50页 |
| ·UHF RFID 标签芯片验证开发平台设计 | 第50-53页 |
| ·UHF RFID 标签芯片的主要设计指标 | 第53-55页 |
| ·本章小结 | 第55-56页 |
| 第四章 UHF RFID 射频模拟前端设计 | 第56-95页 |
| ·射频模拟前端电路的系统架构 | 第56-57页 |
| ·整流器电路设计 | 第57-65页 |
| ·整流器电路结构 | 第57-60页 |
| ·电路工作原理 | 第60-63页 |
| ·电路设计与仿真 | 第63-65页 |
| ·匹配网络与反向散射电路设计 | 第65-71页 |
| ·阻抗匹配理论 | 第66-67页 |
| ·匹配网络设计 | 第67-70页 |
| ·反向散射电路设计 | 第70-71页 |
| ·稳压器设计 | 第71-77页 |
| ·稳压电路分类 | 第72-73页 |
| ·稳压电路设计 | 第73-75页 |
| ·过压保护电路设计 | 第75-77页 |
| ·AM 解调器设计 | 第77-83页 |
| ·ASK 信号解调原理 | 第78-80页 |
| ·AM 解调器设计 | 第80-83页 |
| ·电压参考源设计 | 第83-87页 |
| ·本地振荡器电路设计 | 第87-90页 |
| ·上电复位电路设计 | 第90-91页 |
| ·射频模拟前端电路整体仿真结果 | 第91-94页 |
| ·本章小结 | 第94-95页 |
| 第五章 UHF RFID 控制逻辑电路设计 | 第95-108页 |
| ·控制逻辑电路的系统架构 | 第95-96页 |
| ·Type B 协议的命令格式 | 第96-97页 |
| ·控制逻辑电路的时序控制 | 第97-98页 |
| ·时钟同步模块设计 | 第98-99页 |
| ·解码与编码模块设计 | 第99-100页 |
| ·解码模块设计 | 第99页 |
| ·编码模块设计 | 第99-100页 |
| ·CRC 校验模块设计 | 第100-103页 |
| ·CRC 校验法的原理 | 第100-101页 |
| ·Type B 标准的CRC-16 校验 | 第101-102页 |
| ·校验模块电路设计 | 第102-103页 |
| ·功率管理单元设计 | 第103-105页 |
| ·功耗分析与低功耗设计方法 | 第103-105页 |
| ·电路模块设计 | 第105页 |
| ·控制单元设计 | 第105-106页 |
| ·控制逻辑电路整体仿真结果 | 第106页 |
| ·本章小结 | 第106-108页 |
| 第六章 版图设计 | 第108-113页 |
| ·版图设计的基本原则 | 第108-109页 |
| ·射频模拟前端版图设计 | 第109页 |
| ·控制逻辑电路的版图设计 | 第109-110页 |
| ·标签芯片版图整体布局与设计 | 第110-112页 |
| ·本章小结 | 第112-113页 |
| 第七章 UHF RFID 标签芯片测试 | 第113-122页 |
| ·测试方案与验证开发平台 | 第113-116页 |
| ·各模块电路测试结果 | 第116-121页 |
| ·测试仪器与设备 | 第116页 |
| ·电路测试结果 | 第116-121页 |
| ·本章小结 | 第121-122页 |
| 第八章 结论 | 第122-125页 |
| ·全文总结 | 第122-124页 |
| ·后续研究工作展望 | 第124-125页 |
| 参考文献 | 第125-133页 |
| 发表论文和科研情况说明 | 第133-135页 |
| 致谢 | 第135页 |
