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U(Ⅵ)和Th(Ⅳ)在SiO2上的吸附

摘要第1-5页
Abstract第5-9页
第一章 前言第9-29页
   ·研究背景第9页
   ·放射性废物的地质处置第9-10页
   ·放射性废物处置中的化学问题第10页
   ·核素迁移第10页
   ·核素吸附模式第10-14页
     ·K_d参数模式第10-11页
     ·吸附等温线模式第11-13页
     ·离子交换模式第13页
     ·动力学模式第13-14页
   ·表面配合模型第14-17页
     ·表面配合模型的特征第14-15页
     ·双电层及表面电荷第15-16页
     ·表面配合模型反应模式第16-17页
   ·放射性核素吸附的研究现状第17-19页
   ·选题依据第19-21页
   ·研究目的第21页
 参考文献第21-29页
第二章 U(Ⅵ)在SiO_2上吸附影响的研究第29-50页
   ·材料及方法第29-33页
     ·材料第29-31页
     ·实验方法第31页
     ·pH值及U(Ⅵ)浓度的测量方法第31-32页
     ·结果计算第32-33页
   ·结果与讨论第33-43页
     ·吸附与解吸动力学第33-34页
     ·固液比的影响第34页
     ·pH吸附/解吸边界第34-36页
     ·吸附和解吸等温线第36-37页
     ·离子强度对U(Ⅵ)在SiO_2上吸附的影响第37页
     ·阴离子对U(Ⅵ)在SiO_2上吸附的影响第37-38页
     ·PO_4~(3-)对SiO_2吸附U(Ⅵ)的吸附的影响第38-40页
     ·FA对SiO_2吸附U(Ⅵ)的吸附的影响第40-41页
     ·PO_4~(3-)和FA共存时对SiO_2吸附U(Ⅵ)的影响第41-43页
   ·模型计算第43-47页
   ·结论第47-48页
 参考文献第48-50页
第三章 Th(Ⅳ)在SiO_2上吸附影响的研究第50-67页
   ·材料及方法第50-51页
     ·材料第50页
     ·实验方法第50页
     ·pH值及Th(Ⅳ)浓度的测量方法第50-51页
     ·结果计算第51页
   ·结果与讨论第51-63页
     ·平衡时间对Th(Ⅳ)在SiO_2上吸附的影响第51-52页
     ·固液比对Th(Ⅳ)在SiO_2上吸附的影响第52-53页
     ·pH值对Th(Ⅳ)在SiO_2上吸附的影响第53-54页
     ·吸附等温线第54-56页
     ·离子强度对Th(Ⅳ)在SiO_2上吸附的影响第56-57页
     ·阴离子对Th(Ⅳ)在SiO_2上吸附的影响第57-58页
     ·PO_4~(3-)对Th(Ⅳ)在SiO_2上吸附的影响第58-60页
     ·FA对Th(Ⅳ)在SiO_2上吸附的影响第60-61页
     ·PO_4~(3-)和FA共存时对Th(Ⅳ)在SiO_2上吸附的影响第61-63页
   ·结论第63页
 参考文献第63-67页
第四章 PO_4~(3-)和FA在SiO_2上吸附影响的研究第67-77页
   ·材料及方法第67-68页
     ·材料第67页
     ·实验方法第67-68页
     ·pH值及PO_4~(3-)、FA浓度的测量方法第68页
     ·结果计算第68页
   ·结果与讨论第68-76页
     ·pH值对PO_4~(3-)在SiO_2上吸附的影响第68-69页
     ·PO_4~(3-)在SiO_2上的吸附解吸等温线第69-70页
     ·离子强度对PO_4~(3-)在SiO_2上吸附的影响第70-71页
     ·U(Ⅵ)/Th(Ⅳ)对PO_4~(3-)在SiO_2上吸附的影响第71-72页
     ·FA存在时,U(Ⅵ)和Th(Ⅳ)对PO_4~(3-)在SiO_2上吸附的影响第72-73页
     ·振荡时间对SiO_2吸附FA的影响第73-74页
     ·pH值对SiO_2吸附FA的影响第74-75页
     ·U(Ⅵ)/Th(Ⅳ)对FA在SiO_2上吸附边界的影响第75-76页
     ·PO_4~(3-)存在时,U(Ⅵ)/Th(Ⅳ)对FA在SiO_2上吸附的影响第76页
   ·结论第76-77页
参考文献第77-78页
发表论文情况第78-79页
致谢第79页

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