摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-9页 |
第一章 前言 | 第9-29页 |
·研究背景 | 第9页 |
·放射性废物的地质处置 | 第9-10页 |
·放射性废物处置中的化学问题 | 第10页 |
·核素迁移 | 第10页 |
·核素吸附模式 | 第10-14页 |
·K_d参数模式 | 第10-11页 |
·吸附等温线模式 | 第11-13页 |
·离子交换模式 | 第13页 |
·动力学模式 | 第13-14页 |
·表面配合模型 | 第14-17页 |
·表面配合模型的特征 | 第14-15页 |
·双电层及表面电荷 | 第15-16页 |
·表面配合模型反应模式 | 第16-17页 |
·放射性核素吸附的研究现状 | 第17-19页 |
·选题依据 | 第19-21页 |
·研究目的 | 第21页 |
参考文献 | 第21-29页 |
第二章 U(Ⅵ)在SiO_2上吸附影响的研究 | 第29-50页 |
·材料及方法 | 第29-33页 |
·材料 | 第29-31页 |
·实验方法 | 第31页 |
·pH值及U(Ⅵ)浓度的测量方法 | 第31-32页 |
·结果计算 | 第32-33页 |
·结果与讨论 | 第33-43页 |
·吸附与解吸动力学 | 第33-34页 |
·固液比的影响 | 第34页 |
·pH吸附/解吸边界 | 第34-36页 |
·吸附和解吸等温线 | 第36-37页 |
·离子强度对U(Ⅵ)在SiO_2上吸附的影响 | 第37页 |
·阴离子对U(Ⅵ)在SiO_2上吸附的影响 | 第37-38页 |
·PO_4~(3-)对SiO_2吸附U(Ⅵ)的吸附的影响 | 第38-40页 |
·FA对SiO_2吸附U(Ⅵ)的吸附的影响 | 第40-41页 |
·PO_4~(3-)和FA共存时对SiO_2吸附U(Ⅵ)的影响 | 第41-43页 |
·模型计算 | 第43-47页 |
·结论 | 第47-48页 |
参考文献 | 第48-50页 |
第三章 Th(Ⅳ)在SiO_2上吸附影响的研究 | 第50-67页 |
·材料及方法 | 第50-51页 |
·材料 | 第50页 |
·实验方法 | 第50页 |
·pH值及Th(Ⅳ)浓度的测量方法 | 第50-51页 |
·结果计算 | 第51页 |
·结果与讨论 | 第51-63页 |
·平衡时间对Th(Ⅳ)在SiO_2上吸附的影响 | 第51-52页 |
·固液比对Th(Ⅳ)在SiO_2上吸附的影响 | 第52-53页 |
·pH值对Th(Ⅳ)在SiO_2上吸附的影响 | 第53-54页 |
·吸附等温线 | 第54-56页 |
·离子强度对Th(Ⅳ)在SiO_2上吸附的影响 | 第56-57页 |
·阴离子对Th(Ⅳ)在SiO_2上吸附的影响 | 第57-58页 |
·PO_4~(3-)对Th(Ⅳ)在SiO_2上吸附的影响 | 第58-60页 |
·FA对Th(Ⅳ)在SiO_2上吸附的影响 | 第60-61页 |
·PO_4~(3-)和FA共存时对Th(Ⅳ)在SiO_2上吸附的影响 | 第61-63页 |
·结论 | 第63页 |
参考文献 | 第63-67页 |
第四章 PO_4~(3-)和FA在SiO_2上吸附影响的研究 | 第67-77页 |
·材料及方法 | 第67-68页 |
·材料 | 第67页 |
·实验方法 | 第67-68页 |
·pH值及PO_4~(3-)、FA浓度的测量方法 | 第68页 |
·结果计算 | 第68页 |
·结果与讨论 | 第68-76页 |
·pH值对PO_4~(3-)在SiO_2上吸附的影响 | 第68-69页 |
·PO_4~(3-)在SiO_2上的吸附解吸等温线 | 第69-70页 |
·离子强度对PO_4~(3-)在SiO_2上吸附的影响 | 第70-71页 |
·U(Ⅵ)/Th(Ⅳ)对PO_4~(3-)在SiO_2上吸附的影响 | 第71-72页 |
·FA存在时,U(Ⅵ)和Th(Ⅳ)对PO_4~(3-)在SiO_2上吸附的影响 | 第72-73页 |
·振荡时间对SiO_2吸附FA的影响 | 第73-74页 |
·pH值对SiO_2吸附FA的影响 | 第74-75页 |
·U(Ⅵ)/Th(Ⅳ)对FA在SiO_2上吸附边界的影响 | 第75-76页 |
·PO_4~(3-)存在时,U(Ⅵ)/Th(Ⅳ)对FA在SiO_2上吸附的影响 | 第76页 |
·结论 | 第76-77页 |
参考文献 | 第77-78页 |
发表论文情况 | 第78-79页 |
致谢 | 第79页 |