| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-11页 |
| 1 绪论 | 第11-22页 |
| ·X 射线晶体谱仪简介 | 第12-13页 |
| ·X 射线晶体谱仪研究回顾 | 第13-20页 |
| ·平面晶体谱仪 | 第13-15页 |
| ·凸面晶体谱仪 | 第15-16页 |
| ·凹面弯曲晶体谱仪 | 第16-20页 |
| ·课题研究的意义及主要研究内容 | 第20-21页 |
| ·本章小结 | 第21-22页 |
| 2 椭圆型弯曲晶体谱仪的工作模式、参数优化及分析 | 第22-43页 |
| ·椭圆型弯曲晶体谱仪的工作模式 | 第22-23页 |
| ·晶体的X 射线衍射 | 第23-30页 |
| ·X 射线衍射强度 | 第23-26页 |
| ·晶面间距 | 第26页 |
| ·峰值衍射率和积分反射系数 | 第26-27页 |
| ·表面处理对晶体性能的影响 | 第27-28页 |
| ·常用的分光晶体及其性能 | 第28-30页 |
| ·椭圆型弯曲X 射线晶体谱仪 | 第30-39页 |
| ·椭圆型分光晶体参数模拟 | 第30-36页 |
| ·探测器位置参数模拟 | 第36-38页 |
| ·椭圆型弯曲晶体谱仪参数优化 | 第38-39页 |
| ·结果分析 | 第39-42页 |
| ·本章小结 | 第42-43页 |
| 3 “窗式”X 射线晶体谱仪的研究 | 第43-68页 |
| ·“窗式”X 射线晶体谱仪的概念及“虚拟窗”理论 | 第43-45页 |
| ·“窗式”X 射线晶体谱仪原理 | 第45-46页 |
| ·“窗式”X 射线晶体谱仪的设计 | 第46-55页 |
| ·掠入射平面镜的设计 | 第46-55页 |
| ·“窗式”X 射线晶体谱仪光路设计 | 第55页 |
| ·“窗式”X 射线晶体谱仪的线传递函数 | 第55-65页 |
| ·滤波材料选择 | 第56-60页 |
| ·分光晶体材料选择 | 第60-64页 |
| ·线传递函数的模拟 | 第64-65页 |
| ·“窗式”X 射线晶体谱仪 | 第65-67页 |
| ·本章小结 | 第67-68页 |
| 4 “窗式”X 射线晶体谱仪特性参数研究 | 第68-79页 |
| ·工作能谱(或波长)区 | 第68页 |
| ·谱仪的谱极限分辨能力 | 第68-76页 |
| ·建立坐标系 | 第69-71页 |
| ·诊断谱线加宽 | 第71-76页 |
| ·谱分辨能力 | 第76页 |
| ·“窗式”X 射线晶体谱仪的信噪比 | 第76-77页 |
| ·本章小结 | 第77-79页 |
| 5 研究激光等离子体X 射线的相关理论 | 第79-94页 |
| ·激光与靶耦合主要物理过程图像 | 第79-80页 |
| ·激光在等离子体中的传播和吸收 | 第80-82页 |
| ·激光－X 光转换的主要机制 | 第82-84页 |
| ·平均原子(离子)模型 | 第84-85页 |
| ·束缚电子占据概率p_n 方程组的建立 | 第85-87页 |
| ·X 射线的发射速率和吸收系数 | 第87-90页 |
| ·辐射跃迁几率 | 第90-92页 |
| ·X 射线谱线形状与加宽效应 | 第92-93页 |
| ·本章小结 | 第93-94页 |
| 6 “窗式”X 射线晶体谱仪的实验研究 | 第94-108页 |
| ·“窗式”晶体谱仪测量与诊断系统的设计 | 第94-97页 |
| ·X 射线能谱诊断的需求及等离子体几种简化模型 | 第94-95页 |
| ·“窗式”晶体谱仪测量与诊断系统技术方案分析及设计 | 第95-97页 |
| ·“窗式”晶体谱仪测量与诊断系统的应用研究 | 第97-103页 |
| ·实验条件和结果 | 第97-98页 |
| ·实验结果处理与分析 | 第98-103页 |
| ·空间分辨测量 | 第103页 |
| ·探索诊断等离子体状态参数的方法 | 第103-107页 |
| ·谱线强度法确定电子温度(T_e) 和密度(N_e) | 第104-106页 |
| ·级间谱线强度法对离子丰度及电离温度的确定 | 第106页 |
| ·由线谱轮廓测量离子温度和电子密度 | 第106-107页 |
| ·本章小结 | 第107-108页 |
| 7 总结与展望 | 第108-111页 |
| ·主要结论 | 第108-109页 |
| ·后续研究工作的展望 | 第109-111页 |
| 致谢 | 第111-112页 |
| 参考文献 | 第112-118页 |
| 附录 | 第118页 |