| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-16页 |
| ·本文的研究背景 | 第8-9页 |
| ·相关领域的研究现状 | 第9-14页 |
| ·等离子体 | 第9页 |
| ·空间等离子体 | 第9-10页 |
| ·空间等离子体对电子设备充放电现象的研究现状 | 第10-13页 |
| ·国内外主要采用的研究方法 | 第13页 |
| ·我国研究现状简介 | 第13-14页 |
| ·目前研究中所存在的问题和本论文的主要工作 | 第14-16页 |
| 第二章 相关的等离子体理论基础 | 第16-24页 |
| ·等离子体概述 | 第16-17页 |
| ·简介 | 第16页 |
| ·分类 | 第16-17页 |
| ·国内外应用现状 | 第17页 |
| ·等离子体的主要特征 | 第17-24页 |
| ·等离子体的组成成分 | 第17页 |
| ·等离子体粒子密度 | 第17-18页 |
| ·等离子体温度 | 第18-19页 |
| ·Debye屏蔽和Debye半径 | 第19-21页 |
| ·等离子体振荡和振荡频率 | 第21-22页 |
| ·等离子体鞘层 | 第22-24页 |
| 第三章 等离子体鞘层理论 | 第24-38页 |
| ·等离子体鞘层的形成 | 第24-30页 |
| ·分布函数 | 第24-25页 |
| ·系数a的确定 | 第25-27页 |
| ·单位时间内与单位面积碰撞的粒子数Г | 第27-30页 |
| ·等离子体鞘层电位的计算 | 第30-35页 |
| ·理论依据 | 第30-31页 |
| ·等离子体鞘层电位 | 第31-33页 |
| ·器壁电位 | 第33-34页 |
| ·鞘层宽度 | 第34-35页 |
| ·Bohm判据 | 第35-38页 |
| ·Bohm速度 | 第35-37页 |
| ·Bohm判据 | 第37-38页 |
| 第四章 空间等离子体环境及其对电子设备的影响 | 第38-46页 |
| ·空间等离子体介绍 | 第38-42页 |
| ·空间等离子体环境 | 第38-39页 |
| ·电离层空间等离子体环境 | 第39-40页 |
| ·磁层空间等离子体环境 | 第40-42页 |
| ·空间等离子体对电子设备的影响 | 第42-46页 |
| ·电离层等离子体对电子设备的影响 | 第43-44页 |
| ·磁层空间等离子体对电子设备的影响 | 第44-46页 |
| 第五章 空间等离子体对电子设备充放电效应的时域分析 | 第46-68页 |
| ·等离子体鞘层的形成 | 第46-50页 |
| ·粒子层模型假定 | 第46-47页 |
| ·等离子鞘层电位与电场 | 第47-48页 |
| ·鞘层的电荷分布密度与固体表面的面电荷储集 | 第48-49页 |
| ·粒子层的动量方程 | 第49页 |
| ·等离子体鞘层动力学方程组 | 第49-50页 |
| ·等离子鞘层动力学方程的求解 | 第50-63页 |
| ·逆解析方法 | 第50-55页 |
| ·状态方程解 | 第55-59页 |
| ·充电时间分析 | 第59页 |
| ·空间等离子体环境参数变化对充电电位和充电时间的影响 | 第59-63页 |
| ·空间等离子体对电子设备放电效应分析 | 第63-68页 |
| ·航天电子设备常见的接地方式 | 第63-65页 |
| ·空间等离子体对电子设备放电效应分析 | 第65-68页 |
| 第六章 总结与展望 | 第68-70页 |
| ·总结 | 第68页 |
| ·展望 | 第68-70页 |
| 致谢 | 第70-72页 |
| 参考文献 | 第72-74页 |