高频高压数字式X线机测试系统控制部分设计与实现
摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-5页 |
第一章 引言 | 第5-7页 |
第二章 QUANTUM HF高压发生器控制系统 | 第7-22页 |
·控制系统硬件电路分析 | 第7-14页 |
·OCP板硬件电路分析 | 第7-11页 |
·CLB板硬件电路分析 | 第11-14页 |
·软件流程剖析 | 第14-22页 |
·OCP板软件任务分析 | 第16-17页 |
·CLB板主CPU软件任务分析 | 第17-18页 |
·CLB板从CPU软件任务分析 | 第18-19页 |
·一次曝光的工作流程 | 第19-22页 |
第三章 180kV耐压测试系统控制部分设计与实现 | 第22-39页 |
·控制部分方案设计 | 第22-23页 |
·控制部分硬件系统结构 | 第23-26页 |
·控制部分软件设计 | 第26-37页 |
·上位机软件设计 | 第27-33页 |
·CLB板主CPU软件设计 | 第33-34页 |
·耐压测试软件总体流程 | 第34-37页 |
·耐压测试结果与讨论 | 第37-39页 |
第四章 OCP板测试系统设计与实现 | 第39-53页 |
·检测系统方案设计 | 第39页 |
·检测系统软件设计 | 第39-51页 |
·LCD检测 | 第40-42页 |
·键盘检测 | 第42-44页 |
·LED检测 | 第44-45页 |
·NVRAM检测 | 第45-47页 |
·Flash检测 | 第47-51页 |
·检测系统结果及讨论 | 第51-53页 |
第五章 总结与展望 | 第53-54页 |
参考文献 | 第54-55页 |
致谢 | 第55-56页 |
附录:硕士期间发表的论文与出版物 | 第56-57页 |