基于传感器阵列的脉冲漏磁特征提取技术研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-17页 |
| ·引言 | 第13页 |
| ·研究的意义及其应用背景 | 第13-14页 |
| ·阵列脉冲漏磁技术的发展现状 | 第14-16页 |
| ·本论文主要的研究内容及结构编排框架 | 第16-17页 |
| 第二章 脉冲漏磁检测的理论基础 | 第17-24页 |
| ·电磁学理论基础 | 第17-19页 |
| ·磁场的两个基本定理 | 第17页 |
| ·磁路定理 | 第17-18页 |
| ·麦克斯韦方程组 | 第18-19页 |
| ·漏磁检测原理 | 第19-22页 |
| ·漏磁检测的微观机理 | 第19页 |
| ·漏磁检测的宏观解释 | 第19-20页 |
| ·磁场X 分量和Y 分量 | 第20-21页 |
| ·漏磁检测的磁化方式 | 第21-22页 |
| ·脉冲激励与漏磁检测技术相结合 | 第22-23页 |
| 本章小结 | 第23-24页 |
| 第三章 阵列脉冲漏磁检测的有限元仿真分析 | 第24-40页 |
| ·有限元分析法 | 第24页 |
| ·有限元模型的建立 | 第24-25页 |
| ·利用有限元仿真实现激励模块参数的设定 | 第25-28页 |
| ·激励频率 | 第26-27页 |
| ·激励电流密度 | 第27-28页 |
| ·时域上对不同类型的缺陷进行仿真数据对比 | 第28-34页 |
| ·不同深度的方槽缺陷 | 第28-29页 |
| ·不同宽度的方槽缺陷 | 第29-31页 |
| ·不同倾斜角度的斜槽类缺陷 | 第31-32页 |
| ·斜槽类缺陷与方槽类缺陷的比较 | 第32-34页 |
| ·频域信号的仿真数据分析结果 | 第34-39页 |
| 本章小结 | 第39-40页 |
| 第四章 传感器阵列脉冲漏磁检测系统的设计与实现 | 第40-51页 |
| ·传感器阵列脉冲漏磁检测系统的整体框架 | 第40页 |
| ·激励结构的设计 | 第40-42页 |
| ·信号发生器 | 第41页 |
| ·功率放大器 | 第41-42页 |
| ·激励线圈 | 第42页 |
| ·阵列探头的设计 | 第42-45页 |
| ·传感器选择 | 第42-44页 |
| ·阵列设计 | 第44-45页 |
| ·调理电路及信号采集模块的设计 | 第45-47页 |
| ·信号调理电路 | 第45-46页 |
| ·数据采集部分 | 第46-47页 |
| ·软件部分 | 第47-50页 |
| ·BCB 数据采集功能的实现 | 第47-49页 |
| ·BCB 特征显示功能的实现 | 第49-50页 |
| ·系统的实现过程 | 第50页 |
| 本章小结 | 第50-51页 |
| 第五章 基于阵列检测系统的实验研究 | 第51-72页 |
| ·主要试件类型 | 第51-52页 |
| ·检测数据的预处理 | 第52-59页 |
| ·小波去噪 | 第52-55页 |
| ·周期平均 | 第55页 |
| ·曲线拟合还原 | 第55-59页 |
| ·信号时域中的缺陷识别 | 第59-68页 |
| ·缺陷对称性的识别 | 第59-61页 |
| ·对称缺陷的宽度识别 | 第61-63页 |
| ·对称缺陷的深度识别 | 第63-65页 |
| ·非对称缺陷的角度识别 | 第65-67页 |
| ·误差分析 | 第67页 |
| ·缺陷轮廓成像软件的实现 | 第67-68页 |
| ·信号频域中的缺陷特征分析 | 第68-70页 |
| ·脉冲漏磁检测系统在铁轨检测上的应用 | 第70-71页 |
| 本章小结 | 第71-72页 |
| 第六章 总结与展望 | 第72-74页 |
| ·总结 | 第72页 |
| ·展望 | 第72-74页 |
| 参考文献 | 第74-78页 |
| 致谢 | 第78-79页 |
| 在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第79页 |
