| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-19页 |
| 1.1 课题研究背景及意义 | 第9-10页 |
| 1.2 介电谱研究现状 | 第10-17页 |
| 1.2.1 介电响应基本理论 | 第10-12页 |
| 1.2.2 介电谱测量方法简介 | 第12-14页 |
| 1.2.3 平板电容法研究现状 | 第14-17页 |
| 1.3 课题的主要研究内容 | 第17-19页 |
| 第2章 基于三电极和接触法的介电常数测量修正 | 第19-38页 |
| 2.1 三电极系统及介电常数计算 | 第19-20页 |
| 2.2 电场有限元建模及结果分析 | 第20-23页 |
| 2.2.1 3D电场有限元建模 | 第20页 |
| 2.2.2 建模结果及分析 | 第20-21页 |
| 2.2.3 实验验证 | 第21-23页 |
| 2.3 仿真结果与分析 | 第23-34页 |
| 2.3.1 样本参数的影响分析 | 第23-26页 |
| 2.3.2 电极参数的影响分析 | 第26-33页 |
| 2.3.3 屏蔽盒参数的影响分析 | 第33页 |
| 2.3.4 介电常数误差的分布 | 第33-34页 |
| 2.4 介电常数修正方法及应用 | 第34-37页 |
| 2.4.1 介电常数误差的分布 | 第34-36页 |
| 2.4.2 修正方法的验证 | 第36-37页 |
| 2.5 本章小结 | 第37-38页 |
| 第3章 接触不良对介电谱测量的影响 | 第38-51页 |
| 3.1 接触不良的建模及结果比较 | 第38-42页 |
| 3.2 接触不良影响因素仿真分析 | 第42-46页 |
| 3.2.1 气隙参数的影响 | 第43-45页 |
| 3.2.2 样本参数的影响 | 第45-46页 |
| 3.3 实验验证 | 第46-50页 |
| 3.3.1 测量仪器 | 第46-47页 |
| 3.3.2 样本制备 | 第47-48页 |
| 3.3.3 实验结果分析 | 第48-50页 |
| 3.4 本章小结 | 第50-51页 |
| 第4章 非接触法介电谱测量结果及误差分析 | 第51-77页 |
| 4.1 非接触法抑制绝缘电阻影响的探讨 | 第51-58页 |
| 4.1.1 接触法与非接触法测量结果的比较及理论分析 | 第51-55页 |
| 4.1.2 介电谱仿真分析 | 第55-57页 |
| 4.1.3 实测介电谱的分析 | 第57-58页 |
| 4.2 电气和尺寸误差影响的分析及比较 | 第58-70页 |
| 4.2.1 理论分析 | 第58-60页 |
| 4.2.2 仿真分析 | 第60-67页 |
| 4.2.3 实测数据的分析 | 第67-69页 |
| 4.2.4 实际测量时算法选择 | 第69-70页 |
| 4.3 绝缘材料特性及电极结构导致误差的分析 | 第70-75页 |
| 4.3.1 绝缘材料特性导致误差分析 | 第70-73页 |
| 4.3.2 电极结构导致误差分析 | 第73-75页 |
| 4.4 本章小结 | 第75-77页 |
| 第5章 结论与展望 | 第77-78页 |
| 5.1 结论 | 第77页 |
| 5.2 展望 | 第77-78页 |
| 参考文献 | 第78-83页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第83-84页 |
| 致谢 | 第84页 |